판매용 중고 HITACHI S-4800 #9257544
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판매
ID: 9257544
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
For ultra high resolution imaging
With specimen exchange airlock
Detectors:
STEM
Yag backscatter
Magnification: 100x - 800,000x.
HITACHI S-4800 은 업계 최고의 스캐닝 전자 현미경으로, 최첨단 기술과 탁월한 사용자 편의성, 신뢰성을 결합한 제품입니다. 이 현미경은 미세 결정학, 고장 분석, 나노 기술 등 다양한 연구 응용 프로그램을 가능하게합니다. 최첨단 기능에는 1 나노 미터 (1 나노 미터) 의 높은 공간 해상도, 최대 15 µm의 높은 깊이, 5 ~ 15mm의 넓은 시야가 포함됩니다. 이것은 단일 결정에서 나노 입자에 이르는 샘플의 정확한 분석을 촉진합니다. 또한 HITACHI S 4800의 큰 챔버 크기는 75mm, 챔버 창은 40mm로, 샘플 준비 및 스캔이 쉽습니다. S-4800은 뛰어난 빔 안정성과 직경 4 nm 미만의 매우 작은 소스 크기를 가진 강력한 냉장 방출 전자 건 (cold-field emission electron-gun) 으로 설계되었습니다. 또한 자동 빔 센터 (beam-center) 정렬 및 동적 포커스 제어를 통해 이미지 선명도 및 해상도를 향상시킵니다. 따라서 숙련된 사용자가 수작업으로 조정하지 않고도 고품질 이미징을 얻을 수 있습니다. 또한, S 4800은 정확한 샘플 포지셔닝 및 닫힌 루프 스테이지 동작을 보장하는 통합 미니 스테이지 (mini-stage) 를 제공합니다. 이를 통해 큰 샘플의 정확한 정렬 및 스캔이 가능합니다. HITACHI S-4800은 또한 1nanoamp에서 1000 nanoamps 범위의 빔 전류 제어를 통해 정확한 에너지 제어를 제공합니다. 이 현미경의 고에너지 해상도는 광전자 현미경 (photoelectron microscopy), 탄성 산란 영상 (elastic scattering imaging), 에너지 의존 대비 기술 등 다양한 영상 기술에 유용합니다. 또한, 현미경에는 분리 가능한 2 차 전자 검출기 및 전자 자극 검출기가 장착되어 여러 응용 분야에 대해 매우 민감하게 분석 할 수 있습니다. HITACHI S 4800에는 번거로운 작동이 가능한 다양한 자동 기능이 있습니다. 여기에는 직관적인 사용자 인터페이스, 자동 확대/축소, 자동 흰색 균형 및 자동 밝기가 포함됩니다. 또한, 현미경에는 손쉽게 데이터를 공유하고 아카이빙할 수 있게 해 주는 통합 이미징 캡처 (imaging capture) 및 포스트 프로세싱 (post-processing) 소프트웨어가 있습니다. 강력한 이미징 기능, 자동화된 기능, 사용자 편의성을 모두 갖춘 S-4800 은 풍부한 경험과 초보적인 전자 현미경 전문가를 위한 최상의 선택입니다.
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