판매용 중고 HITACHI S-4800 #9254505
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ID: 9254505
빈티지: 2008
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Secondary electron image resolution:
1.0 nm at 15 kV, WD: 4 mm
1.4 nm at 1 kV, WD: 1.5 mm
Declaration mode 2.0 nm at 1 kV, WD: 1.5 mm, Normal mode
Magnification:
LM Mode: 20x - 2,000x
HM Mode: 100x - 800,000x
Stigmator: Octopole electromagnetic
Scanning coil: 2-Stages electromagnetic electron optics
Electron gun: Cold cathode field emission source
Lens type: 3-Stages electromagnetic lens reduction system
Objective aperture: Variable type 4 position externally selectable
Sample chamber:
Size: Type I stage
Max sample size: Diameter, 4"
Stage motion:
3-Axis motorized
X/Y: 0-50 mm
Rotation: 360°
Display system:
Image display:
Full screen: 1,280 x 960 Pixels
Reduced area: 640 x 480 Pixels
Reduced area: 320 x 240 Pixels
(2) Dual images: 640 x 480 Pixels
Scanning speed:
TV (25/30 x 2 frame/s)
Fast (6.25/7.5 x 2 frame/s)
Slow (1/4/20/40/80 s/frame / .5/2/10/20/40 s/frame)
Signal selection:
SE Signal
X-Ray signal
AUX Signal
Vacuum system: Full automatic operation with pneumatic valve control
Ultimate vacuum:
10^-7 Pa in electron gun chamber
10^-4 Pa in specimen chamber
(3) Ion pumps
Turbo pump
Oil rotary pump
Includes:
UPS
ULVAC GLD-136 Vacuum pump
EYELA Cool Ace CA-1111 Chiller
Operation manuals included
2008 vintage.
HITACHI S-4800 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 샘플 표면의 고해상도 이미지를 생성하기 위해 2 개의 이미징 모듈 (2 차 전자 및 역 산란 전자) 을 결합하는 강력한 기기입니다. HITACHI S 4800 장비에는 다양한 기능과 최첨단 (최첨단) 기술 (대용량 작동 거리) 과 고급 오프 축 (Off-axis) 전자광학 기술이 탑재되어 있습니다. S-4800 은 1 nm 미만에서 500 nm 이상으로 높은 수준의 해상도와 확대 (확대) 기능을 제공하여 다양한 애플리케이션에 적합합니다. 이 시스템에는 최대 10kV 전자를 전송할 수있는 최신 오프 축 (off-axis) 렌즈가 장착되어 있습니다. 또한 자동 초점 기능 (focusing capability) 이 있으며 대비가 큰 패턴 이미지를 투영할 수 있습니다. 이 장치의 확장 가능한 챔버 볼륨 (expandable chamber volume) 및 유연한 단계 (flexible stage) 를 사용하면 최대 200mm까지 더 크고 두꺼운 샘플을 연구 할 수 있습니다. 샘플 스테이지는 챔버 내부에서 최대 810mm (mm) 까지 열릴 수 있으며, 더 크고 두꺼운 샘플을 쉽게 관찰 할 수 있습니다. S 4800에는 전자와 이온에서 동시에 X 선 신호를 생성 할 수있는 독특한 X 선 소스를 갖춘 강력한 FE-SEM (Field Emission Source) 이 있습니다. 이 기능은 샘플 서피스의 질적, 정량적 특성에 유용합니다. HITACHI S-4800 은 성능을 극대화하여 소음이 적고 해상도가 높은 이미징 기능을 제공합니다. 기계의 전자 제품 (electronics on the machine) 은 높은 안정성과 안정적인 결과를 제공하도록 설계되었습니다. 또한 HITACHI S 4800 툴에는 고급 고속 이미징 에셋이 장착되어 있어 높은 프레임 속도 (High Frame Rate) 이미지를 캡처할 수 있습니다. 이 모델에는 표본 매핑, 디지털 이미지 몽타주, 3D 이미징, 그레인 인식, 개체 식별, 입자 카운팅, 표면 영역 측정, 두께 측정 등 표본 분석을위한 다양한 이미징 도구가 있습니다. 마지막으로, S-4800 의 편리한 장비는 간편한 탐색 및 제어 기능을 제공합니다. 직관적인 터치 스크린 인터페이스와 포괄적인 사용자 설명서를 통해 S 4800은 이상적인 SEM 솔루션이 됩니다.
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