판매용 중고 HITACHI S-4800 #9213997
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ID: 9213997
빈티지: 2010
Field emission scanning electron microscope (FE-SEM)
With EDX system
Sample loading systems: Transfer sample in inert gas vessel
Secondary electron image resolution:
1.0nm at 15 kV, WD=4mm
1.4nm at 1 kV, WD=1.5mm
Declaration mode:
2.0nm at 1 kV
WD: 1.5mm
Normal mode
Magnification:
LM Mode: 20x – 2,000x
HM Mode: 100x – 800,000x
Stigmator: Octopole electromagnetic
Scanning coil: 2-Stage electromagnetic electron optics
Electron gun: Cold cathode field emission source
Lens type: 3-Stage electromagnetic lens reduction system
Objective aperture: Variable type 4 position externally selectable
Sample chamber:
Size: Type I stage
Max sample size: Diameter, 4" (100mm)
Stage motion:
3-Axis motorized
X/Y: 0-50mm
R: 360 Deg continuous
Display system:
Image display
Full screen: 1,280 x 960 pixels
Dual display
Scanning speed:
TV: 25/30x2 frame/s
Fast: 6.25/7.5x2 frame/s
Slow: 1/4/20/40/80 s/frame or 5/2/10/20/40 s/frame
Signal selection:
SE Signal
X-Ray signal
AUX Signal
Vacuum system: Full automatic operation with pneumatic valve control
Ultimate vacuum:
Electron gun chamber: 10-7 Pa
Specimen chamber: 10-4 Pa
(3) Pumps:
Ion pump
Turbo pump
Oil rotary pump
Includes:
HORIBA 7593-H EMAX EDS/X system, 2010
Detection area: 30mm²
Window: ATW2
Resolution at 5.9 keV: 133eV
Vacuum pump: ULVAC GLD-136
Chiller: Eyela cool ace CA-1111
UPS
Operation manuals
2010 vintage.
HITACHI S-4800 주사 전자 현미경 (SEM) 은 다양한 재료 특성 적용에 적합한 고성능, 다용도 현미경입니다. HITACHI S 4800 은 전용 초고화질 진공과 새롭게 설계된 신틸레이터 (scintillator) 유형을 활용하여 뛰어난 해상도와 화질을 제공합니다. S-4800은 슈토 키 (Schottky) 장 방출 전자 총을 사용하여 뛰어난 밝기와 낮은 빔 발산을 가진 전자를 생성합니다. 빔 전류 (beam current) 는 연장 기간 동안 높은 수준으로 유지되며, 큰 확대에서도 고해상도 이미지를 생성합니다. 전자 총은 새로 설계된 신틸레이터 (scintillator) 유형과 결합되어 기존 신틸레이터보다 몇 배 높은 신호 대 잡음비 (signal to noise ratio) 를 생성합니다. S 4800에는 렌즈 내 2 차 전자 검출기가 장착되어 있습니다. 이것은 샘플 스테이지의 후면에 여분의 검출기로 달성 할 수있는 것보다 더 높은 정의 2 차 전자 이미지 (2 차 전자 이미지) 를 생성합니다. 또한 다양한 이미징 조건에도 적합하며 저가속 전압 (low accelerating voltage) 이나 고가속 전압 (high accelerating voltage) 으로도 사용할 수 있습니다. HITACHI S-4800 은 높은 배율로 안정된 성능을 확보하기 위해 환경실 (environmental chamber) 을 장착하여 외부 진동의 영향을 최소화합니다. 저온 작동 모드를 사용하면 상당한 열 드리프트없이 저에너지 2 차 전자를 감지 할 수 있습니다. HITACHI S 4800은 또한 1 x 10-6 torr의 초고 진공에서 4 x 10-2 torr의 높은 진공까지 광범위한 진공 수준을 가지고 있으며, 이는 다양한 샘플 준비, 관찰 및 분석 기술을 가능하게합니다. 자동 샘플 교환기 (Automated Sample Changer) 및 고급 제어 시스템 (High Level Control System) 은 자주 활용하고 여러 샘플을 사용하여 작업하는 연구원을 위해 제공됩니다. 제어 시스템은 자동화된 운영 및 데이터 분석 (data analysis) 기능을 통해 연구 효율성을 높일 수 있습니다. S-4800은 강력하고, 다재다능하며, 신뢰할 수있는 스캐닝 전자 현미경으로, 다양한 재료 특성 적용에 적합합니다. 뛰어난 검출 (detection) 및 이미징 (imaging) 기능을 통해 최고 품질의 이미지와 데이터를 필요로 하는 연구원에게는 탁월한 선택입니다.
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