판매용 중고 HITACHI S-4800 #293610187

HITACHI S-4800 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 나노 스케일 수준에서 표본의 고해상도 영상을 얻는 데 사용되는 고도의 과학 기기입니다. 재료 과학 및 물리적 연구에 중요한 도구입니다. HITACHI S 4800 은 표면의 세부적인 고배율 이미지와 표본의 다양한 요소에 대한 초전도 (ultra-probe) 스펙트럼을 생성할 수 있습니다. 이 SEM의 해상도는 최대 1.5 나노 미터이며 배율은 10,000X입니다. S-4800은 고해상도 이미지를 얻을 수 있을 뿐만 아니라 전자 회절 및 EDX (에너지 분산 X- 선 분석) 측정도 수행 할 수 있습니다. S 4800에는 안정적이고 안정적인 전자 빔 배출이 가능한 FEG (field-emission gun) 가 장착되어 있습니다. 이 FEG를 사용하면 가속 전압이 낮아지고, 전자 빔 효과가 줄어들고, 섬세한 샘플에 대한 방사선 피해가 줄어 듭니다. HITACHI S-4800에는 HV (High Vacuum) 카세트 시스템과 같은 자동 샘플 전달 시스템이 있으며, 최대 5 개의 샘플을 효율적으로 변경하고 검사합니다. 또한 자동 샘플 (automated sample) 제공 시스템에서는 환경 (environment) 및 사용자 안전 (user safety) 과 같은 문제가 고려됩니다. HITACHI S 4800 에는 다양한 측정 기술이 적용된 다양한 탐지기 (detector) 가 장착되어 있습니다. 이러한 검출기는 2 차 전자 (SE), 역 산란 전자 (BSE) 및 신호 전자 (SED 검출기) 를 포함한다. SE 및 BSE 검출기는 샘플의 이미징 및 구성 분석에 사용되며, SED 검출기는 고배율 이미지를 얻거나 표면 피쳐나 나노 구조를 측정하는 데 사용됩니다. S-4800 은 이미징 (Imaging) 과 조성 (Compositional) 분석을 위한 툴이 되도록 설계되었지만, 그 분광학적 기능은 다재다능합니다. 에너지 필터를 사용하여 S 4800은 XMA (X-ray Micro Analysis) 및 XRF (X-ray Fluorescence) 와 같은 다양한 분광 측정을 수행 할 수 있습니다. HITACHI S-4800 은 다양한 검출기 (detector) 와 분광법 (spectroscopy) 기능을 통해 질적 구성 데이터와 함께 정확하고 고급 이미지를 얻을 수 있습니다. 전체적으로 HITACHI S 4800 은 강력하고 다용도 스캐닝 (scanning) 전자 현미경을 찾는 사용자에게 적합한 선택입니다. 뛰어난 이미징 기능, 자동화된 샘플 전달 시스템 (sample delivery system) 및 분광법 (spectroscopying technique) 을 갖추고 있어 모든 연구 연구소에서 효과적인 툴이 됩니다.