판매용 중고 HITACHI S-4800 #293604807

HITACHI S-4800 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 뛰어난 이미지 선명도와 분석 정확도를 제공하여 가장 작은 목표와 기능까지 분석 할 수 있습니다. 이 고성능 기기는 가변 압력 시스템 (Variable Pressure System) 과 매우 직관적인 조작성을 갖춘 고급 자동 기능을 갖추고 있습니다. HITACHI S 4800 은 장애 분석, 설계/프로세스 개발, 재료 특성 등 다양한 애플리케이션을 위한 최적의 툴입니다. S-4800 의 모듈식 구조를 통해 다양한 구성이 특정 요구 사항과 예산을 충족할 수 있습니다. 이 SEM에는 3 단계 열 열열로 증강 된 냉음극 필드 배출 건 (FEG) 이 있어 높은 수준의 해상도와 명암을 달성 할 수 있습니다. FE 검출기는 모든 각도에서 2 차 전자를 감지하여 가속 전압, 이미지 디테일, 시야 사이의 절충을 방지합니다. 전자 빔은 최대 x400,000 배율에 도달 할 수 있으며, 낮은 샘플 노출을위한 작은 프로브 전류 (surbe current) 가 있습니다. 진공 챔버에는 5 개의 다른 입구/대피 포트가 장착 된 샘플 챔버 (sample chamber) 가 있으며, 빠르고 쉬운 샘플 로딩 및 교환이 가능합니다. 강력한 압력 규제를 통해 ASE (Automatic Sample Environment) 는 낮은 진공 및 환경 제어 애플리케이션에 대한 쉬운 접근 방식을 제공합니다. 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDX) 과 같은 옵션 기술은 적용 목적에 따라 S 4800에 추가 될 수 있습니다. HITACHI S-4800은 직관적인 사용자 인터페이스를 통해 밝고 선명한 LED 디스플레이를 제공합니다. HITACHI S 4800은 재료 과학 및 분석 분야에서 계속해서 귀중한 도구입니다. 고급 기능, 뛰어난 이미지 해상도, 명암비, 폭넓은 기능, 간편한 작동 기능을 제공합니다. 모듈식 구조 (modular structure), 옵션 기술 (optional technologies), 다양한 어플리케이션 및 조건에서 작업할 수 있는 기능으로, 그 이점은 분명합니다.