판매용 중고 HITACHI S-4700 #9401458

HITACHI S-4700은 고급 연구 및 산업 응용 프로그램의 요구 사항을 충족시키는 다양한 기능을 제공하는 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 장비에는 고해상도 FEG (Field Emission Gun) 전자와 이미지 개선을위한 대형 작업 거리 목표 렌즈가 장착되어 있습니다. 페그 시스템 (FEG System) 은 서브나노미터 수준에서 8nm 이상으로 다양한 해상도로 더 밝고 선명한 이미지를 생성 할 수 있습니다. HITACHI S 4700의 이미징 기능은 소립자 (small particle) 와 생물학적 표본 연구와 관련된 응용 분야에 가장 적합합니다. 고압 전자 빔 (electron beam) 이 샘플 표면에 미치는 충격으로 생성 된 2 차 전자는 서브 나노 미터 (subnanometer) 해상도의 지형 정보를 나타낼 수있다. 이 단위는 서피스 면적의 측정, 그레인 크기 (grain size), 원소 구성 (elemental composition) 과 같은 서피스 분석 응용 프로그램에도 사용될 수 있습니다. 에너지 분산 분광계와 통합 된 경우, 기계는 또한 고해상도 원소 분석을 수행 할 수 있습니다. 또한 S-4700 은 고속 이미징 및 높은 처리량을 제공하도록 설계되었습니다. 고속 CCD 카메라가 내장된 마이크로스코프는 기존 SEM 보다 빠르게 이미지를 얻을 수 있습니다. 대용량 챔버 및 스테이지는 대용량 샘플 볼륨으로 높은 처리량 작업을 지원합니다. S 4700은 샘플 조작 및 관찰의 유연성을 제공합니다. 새로 개발된 마그네틱 스테이지 (magnetic stage) 가 추가되면, 이 도구는 샘플을 360도 회전식으로 스캔할 수 있으며, 이를 통해 더 적은 수의 사진으로 더 많은 이미지를 얻을 수 있습니다. 또한, 대형 챔버는 틸팅 (tilting) 및 바늘 또는 마이크로 프로브 조작기가있는 단계 (stage) 와 같은 여러 표본 조작 기술을 수용합니다. 고급 사용자에게 HITACHI S-4700은 다양한 사용자 친화적 소프트웨어/하드웨어 옵션을 제공합니다. HITACHI HACS (Automated Control Asset: HITACHI HACS: Automated Control Asset) 는 손쉽게 작동할 수 있도록 장착되어 있으며, 이를 통해 사용자가 손쉽게 데이터를 이미징하고 분석할 수 있는 매개변수를 설정할 수 있습니다. 또한 새로운 소프트웨어 옵션 (예: HITACHI Automated Image Analysis Model (HAIAS) 은 사용자가 SEM에서 가져온 이미지를 처리 및 분석할 수 있는 강력한 도구를 제공합니다. 결론적으로 HITACHI S 4700 은 탁월한 이미지 처리 기능, 높은 처리량, 유연한 샘플 조작을 제공하는 고급 SEM 입니다. 이 기능의 조합으로, 장비는 고급 연구와 산업용 응용프로그램, 그리고 원소 분석을위한 이상적인 플랫폼 (platform) 이 됩니다.