판매용 중고 HITACHI S-4700 #9382978

HITACHI S-4700은 낮은 진공 모드와 높은 진공 모드 모두에서 작동하도록 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. SEM은 표면 이미징, 원소 분석, 샘플 조작과 같은 다양한 응용 분야에 적합합니다. HITACHI S 4700에는 요소 매핑 및 정량화 기능을 모두 제공하는 샘플 분석을 위해 EDS (Energy Distersive Spectrometer) 가 장착되어 있습니다. 또한 EDS 는 광범위한 요소 유형을 획득할 수 있으며, 고해상도 (high resolution) 분석을 제공합니다. 또한 S-4700에는 SED (Secondary Electron Detector) 가 제공되는데, SED (Secondary Electron Detector) 는 반응성이 뛰어나고 민감하며 충실한 표현으로 이미징 신호를 기록 할 수 있습니다. S 4700 은 대용량 샘플을 사용해도 샘플 로딩 및 관찰을 수행하는 동안 가장 편리하게 사용할 수 있도록 대용량 챔버 (chamber) 크기를 갖습니다. SEM의 챔버 (chamber) 는 온도가 제어되며 내장 온도 센서는 온도의 변동을 감지하여 최적의 안정성을 보장 할 수 있습니다. HITACHI S-4700 은 작동이 용이하며 직관적인 온보드 사용자 인터페이스를 사용합니다. 이 인터페이스를 사용하면 SEM 이미징 및 EDS 분석에 대한 매개변수 (검출기 게인, 빔 전류, 노출 시간 등) 를 제어하고 설정할 수 있습니다. 또한 SEM (Automated Auto-Tune) 기능은 이미징에 대한 올바른 매개변수와 조건을 설정하여 최적의 성능을 보장하는 자동화된 자동 조정 기능을 제공합니다. HITACHI S 4700은 정교한 검색 기능을 제공합니다. 전원 안정화 마운트 (power-stabilizing mount) 와 같은 기능을 통해 가속 전압 (acceleration voltage) 을 조정하여 다양한 확대/해상도로 샘플을 이미지화할 수 있습니다. 또한, S-4700은 진공 코팅, 샘플 스테이징 및 in-situ 샘플 분석과 같은 광범위한 표본 처리 옵션을 제공합니다. 전반적으로 S 4700 (S 4700) 은 다양한 기능과 기능을 갖춘 강력하고 다용도 스캐닝 전자 현미경입니다. 내장형 기능과 자동화된 시스템 (Automated Systems) 은 리서치 및 산업 환경에서 다양한 SEM 애플리케이션을 위한 이상적인 선택입니다.