판매용 중고 HITACHI S-4700 #9315416

HITACHI S-4700 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 다양한 어플리케이션을 위해 설계된 고급 이미징 장비입니다. 이 고정밀 현미경은 높은 배율 (magnification level) 에서 표본의 세부 이미지를 생성 할 수 있으며, 샘플 재료의 내부 및 외부 구조에 대한 독특한 통찰력을 제공합니다. HITACHI S 4700 (HITACHI S 4700) 은 다양한 고급 기능을 제공하여 광범위한 연구/산업 애플리케이션을 위한 매력적인 옵션을 제공합니다. 이 현미경 시스템은 고해상도 이미징 장치 (high-resolution imaging unit) 를 통해 사용자가 최대 1,000,000 × 의 탁월한 확대 수준을 달성 할 수 있습니다. 이 인상적인 확대 수준은 빔 스캐닝 머신 (beam-scanning machine) 과 매우 민감한 검출 도구 (detection tool) 를 사용하여 가능합니다. 두 시스템 모두 표본의 세밀한 세부 사항을 캡처하고 고품질 이미징 (HA) 을 통해 볼 수 있습니다. 또한 S-4700은 고급 전자 광학 장치 (Optics and Mechanical Imaging Asset) 를 통해 높은 명암과 선명한 해상도의 이미지를 얻을 수 있습니다. 이것은 공간 필터, 중심 및 조명 렌즈, 조리개 (aperture) 와 같은 여러 광학 구성 요소를 사용하여 수행됩니다. 이러 한 구성 요소 들 은 모두 달성 할 수 있는 "디테일 '수준 을 높여 섬세 한 재료 의 정확 하고 정확 한" 이미징' 을 가능 케 한다. 또한 SEM 모델은 가변 압력 장비를 사용하여 초미세 샘플 표면 이미징 기능을 제공합니다. 이 독특한 설계를 통해 사용자는 샘플을 둘러싼 챔버 (chamber) 의 압력을 조작하여 샘플 서피스의 불안정성을 줄일 수 있습니다. 이 기능은 다양한 재료 및 서피스 유형을 실험하는 데 도움이 되며, 표면 지형 (surface topography), 형태 (morphology) 와 같은 표면 특성을 더 잘 연구 할 수있는 기능을 제공합니다. 히타치 (HITACHI) 는 S 4700 에 대한 여러 가지 시청 및 분석 시스템을 제작하여 다양한 연구 방법을 위한 이미지 표시 및 조작 옵션을 연구원에게 제공합니다. 동시 이미징 및 플로팅 기능이 제공되어 mutli 모드 이미징, 확대/축소, 패닝, 3D 렌더링 도구 등 다양한 도구를 사용하여 여러 이미지를 표시하고 분석할 수 있습니다. 또한, 호환되는 소프트웨어 패키지를 전문 이미지 디스플레이 기능 (예: 분석 데이터, 그래픽 시뮬레이션) 제작에 통합할 수 있습니다. 마지막으로, HITACHI S-4700 은 정확한 샘플 포지셔닝 및 이동을 제공하는 여러 자동 스테이지 시스템과 호환됩니다. 이 기능은 개별 샘플을 자동으로 탐색하여 시간을 절약하므로, 이미징 프로세스 (Imaging process) 를 적시에 완료하기 쉽습니다. 전반적으로, HITACHI S 4700 스캐닝 전자 현미경은 광범위한 연구 및 산업 응용에 이상적인 고급 이미징 시스템입니다. 뛰어난 확대 수준, 정확한 이미징, 특화된 분석 기능, 자동화된 스테이지 기능 등, 매우 정확하고 정확한 결과를 얻을 수 있습니다 (영문).