판매용 중고 HITACHI S-4700 #9276154
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ID: 9276154
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Includes:
Magnification: 500,000 times and resolve features to 2 nanometers
Accelerating voltage range: From 0.5 keV to 30 keV
2.5 nm resolution at 1 kV
1.5 nm resolution at 15 kV
Magnification range: From 30x to 500,000x
PC-controlled five axis motorized stage
Specimen stage rotation 360° in continuous mode
Specimen tilt at 12mm working distance (WD) up to 45"
Sample size up to 100 mm diameter x 17 mm high
(2) Secondary Electron (SE) detectors:
Above and below objective lens
Digital image acquisition: 640 x 480, 1280 x 960, or 1560 x 1920 pixels
Fully digital imaging
Image processing
Archiving system.
HITACHI S-4700 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 광범위한 물질의 고해상도 이미징을 위해 설계된 고급 전자 현미경 기기입니다. 이 SEM의 디자인은 유연성 (Flexibility), 향상된 이미징 해상도 (Imaging Resolution), 샘플 조작을 위한 인체 공학적 운영 환경 등 다양한 이점을 제공합니다. HITACHI S 4700은 "가변적 압력" 메커니즘으로 인해 샘플 특성에 관계없이 놀라운 성능을 제공합니다. S-4700 은 최대 30 kV 까지 작동할 수 있는 고전압 전원 공급 장치가 장착된 데스크탑 SEM으로, 필요에 따라 전압 및 이미징 (imaging) 조건을 변경할 수 있습니다. 이 기능은 고감도 신호 수준과 함께, 최적의 해상도에서 샘플 세부 (sample details) 를 관찰 할 수 있습니다. 또한, 자동 초점 조정 시스템은 이미지가 항상 초점에 있는지 확인합니다. S 4700 은 E-LINK 소프트웨어와 통합되어 간단한 기기 최적화, 데이터 캡처, 정량적 분석을 위해 SEM 및 해당 구성요소를 손쉽게 제어할 수 있습니다. 다양한 오브젝티브 렌즈는 20 배에서 수천 배까지 다양한 배율을 제공합니다. 이미징 시스템은 또한 최적의 이미징 및 해상도의 유연성을 위해 가변 길이 필드 렌즈를 제공합니다. 360 ° 회전 샘플 홀더 (360 ° rotating sample holder) 는 모든 각도에서 비교할 수없는 샘플 조작과 검사를 제공하여 불규칙한 모양의 객체를 분석하는 데 이상적입니다. 품질 이미징 (Quality Imaging) 을 보장하기 위해 다양한 단계 및 표본 홀더를 사용하여 샘플을 안전하게 보관할 수 있습니다. HITACHI S-4700은 1 차 터보 분자 펌프 (turbomolecular pump) 와 2 차 다이어프램 펌프 (diaphragm pump) 로 구성된 진공 시스템을 갖추고 있어 이미지 품질 향상에 필수적인 잔류 가스의 신속한 대피를 가능하게합니다. 또한 2 차 펌프는 샘플 충전을 줄이는 데 도움이됩니다. HITACHI S 4700 은 산업, 학술, 연구 환경 등 다양한 애플리케이션에 이상적인 SEM입니다. 혁신적인 이미징 기술과 사용자 친화적 인 디자인으로 모든 현미경 응용프로그램 (microscopy application) 에 적합한 강력한 도구입니다.
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