판매용 중고 HITACHI S-4700 #9245498

ID: 9245498
Scanning Electron Microscope (SEM) BRUKER XFlash 6I30 Video monitor (3) Dry pumps Air compressor BURKER Signal processing unit DELL PC Miscellaneous cables Manuals included Control table missing.
HITACHI S-4700 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 나노 미터 규모에서 표본의 질량과 표면을 조사 할 수있는 고성능 전자 현미경 모델입니다. HITACHI 최고 범위의 SEM 모델 중 하나인 HITACHI S 4700은 프로젝트에 고해상도, 고성능 현미경을 필요로 하는 연구원, 생산자, 제조업체에 다양한 기능과 기능을 제공합니다. 이 기기는 다양한 이미지 캡처 기술, 특히 나노 미터 스케일에서 입자, 입자, 입자 및 섬유 클러스터를 제공하는 2 차 전자 (SE) 이미징 모드를 제공합니다. 이 기능은 SNMS (Secondary Neutral Mass Spectrometry) 기술의 도움을 받아 거의 모든 표본에서 화학 정보를 생성 할 수 있습니다. SEM 모드 (High Angle Annular Dark Field SEM) 는 낮은 가속 전압에서 나노 미터 규모의 가로 해상도를 보유한 물체에 대한 분석과 초고압 검출기의 도움을 받습니다. 또한 S-4700은 EDX (Energy Dispersive X-ray Analysis) 기능을 통해 광범위한 요소를 분석 할 수 있습니다. 이를 맞춤형 X-ray 검출기와 결합하면 정확한 데이터를 생성하고, 표본 검사에서 효율성을 높일 수 있습니다. S 4700은 또한 자동 필름 크기 인식, 스테이지 방황 방지 및 Z- 시프트 보상 (Z-Shift) 과 같은 표본 작업 흐름을 능률화하는 다양한 자동 기능을 제공합니다. 또한, HITACHI S-4700은 고급 하드웨어, 소프트웨어, 이미징 장비 기능을 통해 연구원들이 거의 모든 표면 또는 샘플을 분석 할 수 있습니다. 또한이 모델에는 자체 내장 샘플 준비 시스템이 있습니다. 이미징을위한 표본의 준비를 돕는 기능. 다른 샘플 준비 기능으로는 cryo-SEM의 액체 질소 홀더 (holder for liquid nitrogen for cryo-SEM) 및 액체 표본의 습식 표본 셀이 있습니다. 이러한 고유한 기능과 결합된 이 모델에는 직관적인 컨트롤 유닛 (control unit) 과 터치스크린 (touchscreen) 이 있어 사용자가 간편하게 직관적으로 장치를 작동시킬 수 있습니다. 또한 HITACHI S 4700에는 새로운 X-Y 네비게이션 머신이 내장되어 있어 하나의 장치에 2D 및 3D 네비게이션을 모두 통합할 수 있습니다. 이를 통해 사용자는 모델의 유연성을 강화하여 2D 또는 3D 이미징 작업에 동일한 SEM을 사용할 수 있습니다. 전반적으로, S-4700 은 사용자에게 다양한 혁신적인 솔루션을 제공하며, 전자 현미경을 스캔하는 업계의 선두주자입니다. 속도, 정확도, 정밀도를 결합하는 능력은 재료 과학, 품질 관리, 실험실 작업에 귀중한 도구입니다. S 4700 은 사용 편의성 및 고급 이미징 기능을 다용도 스캐닝 (scanning) 모드와 결합하여 고성능 SEM 을 필요로 하는 프로젝트에 적합한 툴입니다.
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