판매용 중고 HITACHI S-4700 #9241883
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ID: 9241883
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolution:
1.5 nm with 15 kV beam, 12 mm working distance
2.1 nm with 1 kV beam, 1.5 mm working distance
Magnification:
High mag mode: 100x - 500,000x
Low mag mode: 20x - 2,000x
Electron optics:
Electron gun: Cold cathode field emission type
Extracting voltage (Vext): 0 to 6.5 kV
Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30 kV
Lens: 3-Stage electromagnetic lens
Objective lens aperture:
Movable aperture
Self-cleaning thin aperture
Astigmatism correction coil (stigmator): Electromagnetic type
Scanning coil: 2-Stage electromagnetic deflection type
Specimen stage:
X Range: 0 to 25 mm
Y Range: 0 to 25 mm
Z Range: 1.5 to 26.5 mm
Tilt range: -5 to 45 degrees
Rotation: 360 degrees
Spec. size: Maximum100 mm diameter
Display options:
Scanning speeds:
Live viewing: 0.5 to 40 sec per frame
Photo: 17 - 333 seconds per frame
Electrical image shift: 15 um at 12 mm
Evacuation system:
Ultimate vacuum levels
Specimen chamber: 7E^-4 Pa
Electron gun chamber: 2E^-7 Pa at ion pump 1
Vacuum pumps:
Electron optics: (3) Ion pumps
Specimen chamber: Oil diffusion pump or turbo molecular pump
(2) Oil rotary pumps
Acoustic noise: Less than 65 dB
Dielectric voltage-withstand: 1500 VAC/1 min
Microscope control OS: Windows XP
Does not include EDAX.
HITACHI S-4700은 나노 스케일 물체 및 물질을 시각화하는 데 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고해상도 이미지 (고해상도 이미지) 를 제공하며, 적용된 명암제 없이도 기존의 실험실 조명 현미경과 비교할 수 있습니다. SEM은 Scanning Mode와 Point Mode의 두 가지 모드로 작동합니다. 스캐닝 모드 (Scanning Mode) 에서, 균질화 된 전자 빔이 전자 총에서 방출되고 일련의 전자기 렌즈에 의해 샘플에 초점을 맞춘다. 빔 (beam) 이 샘플을 스캔함에 따라, 전자는 역 산란되어 전자 검출기에서 검출된다. 이를 통해 초고해상도로 샘플의 디지털 이미지 (digital image) 를 형성 할 수 있습니다. 포인트 모드 SEM (Point Mode SEM) 은 견고하게 초점을 맞춘 단일 전자 빔을 생성하여 샘플에 대한 개별 관심 영역을 찾아서 분석하고 현재 기능의 고해상도 이미지를 생성할 수 있습니다. 이를 통해 사용자는 치수, 모양 및 기타 특성에 대한 정확하고 정확한 측정을 수행할 수 있습니다. 또한 HITACHI S 4700 은 다양한 검출기 (detector) 구성과 고급 이미징 (advanced imaging) 방법을 통해 다양한 자료와 속성을 관찰할 수 있습니다. SEM의 내장 분석 기능에는 전자 에너지 손실 분광법 (EELS) 및 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 이 포함됩니다. 엘스 (EELS) 를 사용하면, 사용자는 가속 전압에서 흩어진 전자를 사용하여 전자의 에너지 손실을 측정하고 샘플을 구성하는 원자를 식별 할 수 있습니다. EDS를 사용하면 샘플에서 X- 레이가 방출되어 샘플의 컴포지션에 대한 원소 정보를 제공합니다. S-4700 은 모든 HITACHI 이미징 시스템과 원활하게 연동하여, 이미지 처리, 분석, 데이터 처리를 빠르고 간편하게 수행할 수 있습니다. 컨트롤러 (Controller) 와 소프트웨어 (Software) 는 자동화된 작업을 제공하여 사용자가 샘플의 기능을 신속하게 식별, 측정, 분석하고 결과를 내보낼 수 있습니다. S 4700은 나노 기술, 재료 과학, 생명 과학 분야에서 일하는 연구 실험실에 이상적인 도구입니다. 나노 스케일에 매우 정확한 이미지와 데이터를 제작합니다.
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