판매용 중고 HITACHI S-4700 #9204608

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ID: 9204608
Field emission scanning electron microscope (FESEM) Accelerating voltage ranging: 0.5 to 30kV Resolution: 1.5nm Specimen stage titing: -5 to 360° C in continuous rotation Specimen: Upto 150mm diameter Multiple scanning modes Maxing out: (40) Frames per second.
HITACHI S-4700은 고급형, 고해상도 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 으로, 연구원들에게 재료 과학 및 산업 분석에 광범위한 기능을 제공하도록 설계되었습니다. HITACHI S 4700은 초고층 진공기와 시각적 향상 (visual enhancement) 기술의 조합을 사용하여 나노미터 규모 표본의 명확한 이미지를 만들 수 있습니다. S-4700은 고급 전자 열을 사용하여 초고속 해상도 이미징 기능을 제공합니다. 이 기둥에는 전자의 단단히 집중된 빔을 생성하는 전장 방출 총 (field-emission gun) 이 장착되어 있습니다. 이 칼럼에는 4 중 극 시스템과 비교할 수없는 이미징 기능을위한 장기 안정성을 갖춘 렌즈 시스템 (lens system) 도 있습니다. 또한 S 4700 은 뛰어난 이미징 기능 외에도 다양한 고급 (advanced) 기능을 통해 작업을 보다 쉽게 수행할 수 있습니다. 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스를 통해 작업을 쉽게 수행할 수 있습니다. HITACHI S-4700에는 자동 표본 교환기 (automated simimen changer) 와 여러 탐지기 (multiple detector) 가 포함되어 있어 서로 다른 표본 사이를 쉽게 전환할 수 있습니다. 또한 HITACHI S 4700 은 자동 초점, 낙인 찍기, 데이터 저장, 이미지 자동 압축 등의 고급 기능도 제공합니다. S-4700은 다양한 연구 요구에 적합한 선택입니다. 울트라 하이 해상도 이미징 (Ultrahigh Resolution Imaging) 기능은 고분자, 다결정 및 세라믹스와 같은 재료의 물리적 특성을 측정하는 등 다양한 재료 분석 응용 분야에 적합합니다. 또한, S 4700 은 반도체 장치 연구, 표면 결함 분석, 제품 성능 평가 등에도 사용될 수 있습니다. HITACHI S-4700은 고급 이미징 기능을 원하는 실험실에 이상적인 도구입니다. HITACHI S 4700 은 광범위한 이미징 기능, 자동화된 기능, 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 통해 하이엔드 자재 분석 및 제품 평가를 위한 탁월한 선택입니다.
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