판매용 중고 HITACHI S-4700 #9058859
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판매
ID: 9058859
빈티지: 1998
Field emission scanning electron microscope (FE SEM)
Type I
Resolution:
Accelerating voltage: 15 kV
Working distance: 12 mm 1.5 nm
Accelerating voltage: 1 kV
Working distance: 2.5 mm 2.5 nm
Magnification:
High magnification mode: 100x to 500,000x
Low magnification mode: 20x to 2,000x
Electron optics:
Electron gun: Cold cathode field emission
Extracting voltage (Vext): 0 to 6.5kV
Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30kV (in 100V steps)
Lens: 3-stage electromagnetic lens, reduction type
Objective lens aperture: Moveable aperture
(4) Openings selectable / Align-able outside column
Self-cleaning thin aperture
Astigmatism correction coil (Stigmator): Electromagnetic type
Scanning coil: 2-stage electromagnetic-deflection type
Specimen stage:
X Traverse o to 25 mm (Continuous)
Y Traverse o to 25 mm (Continuous)
Z Traverse 2.5 to 27.5 mm (Continuous)
Tilt -50 to +450
Rotation: 3600 (Continuous)
Specimen size (Airlock type specimen exchange)
Maximum: 100 mm (Diameter)
Display unit:
Display type: Flicker- free image on PC monitor (Full scanning speeds)
Viewing monitor: Type 17
Color: 1024 x 768 pixels
Photo CRT (Option): Ultra-high resolution type (Effective field of view 120 x 90 mm)
Scanning modes: Normal
Reduced area
Photo
Split/Dual magnification
Line
Position setting
Spot
AAF (Analysis Area Finder)
SAA (Selected Area Analysis)
Scanning speeds: Fast
Slow: 0.5 to 40 see for frame viewing
For photo mode: 20/17, 40/33, 80/67, 160/167, 320/333
Fast: NTSC or PAL signal Value of (50 HZ)/(60 Hz)
Signal processing modes:
Automatic brightness control
Gamma control
Automatic focus
Automatic stigmator
Automatic data display:
Film number
Accelerating voltage
Magnification
Micron bar
Micron value
Date / Time and working distance
Data entry:
Alphanumeric characters
Numbers and marks can be written on image from keyboard
Electrical image shift: +/- 15um (WD = 12mm)
Evacuation system:
System type: Fully automatic pneumatic-valve
Ultimate vacuum levels: Specimen chamber 7 x 10'4 Pa
Electron gun chamber:
IP-1 2 x 10'7 Pa
IP-2 2 x 10'6 Pa
IP-3 7 x 10'5 Pa
Vacuum pumps: Electron optical system: (3) Ion pumps
Specimen chamber: Oil diffusion pump
Turbo molecular pump (option)
(2) Oil rotary pumps
Oil-less type compressor
Protection devices:
Warning devices power failure
Cooling-water interruption
Inadequate vacuum
Others:
Acoustic noise Less than 65 dB
Dielectric voltage-withstand: 1500VAC/1min
No EDX
1998 vintage.
HITACHI S-4700은 다양한 고성능 어플리케이션을 위해 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 현미경은 고해상도 (high resolution) 와 확대 영상을 다양한 표본 관찰 모드와 결합합니다. HITACHI S 4700은 SmartMeister (SmartMeister) 라는 재설계된 제어 시스템을 갖추고 있어 운영 및 데이터 획득 경험을 최적화합니다. SmartMeister 의 사용자 친화적 인터페이스 (User-Friendly Interface) 는 복잡한 데이터 분석 프로세스를 보다 쉽게 이해하고 이미지 처리 조건을 신속하게 조정할 수 있도록 합니다. 이 기구 에는 가변 진공실 이 장착 되어 있는데, 이것 은 고도 의 "이미지 '해상도 를 유지 하면서 표본 을 정확 히 관찰 할 수 있게 해 준다. 가변 진공 챔버 (variable vacuum chamber) 는 또한 챔버에 공기가 들어오지 않도록 함으로써 오염을 크게 줄이는 데 도움이됩니다. S-4700은 나노미터 규모의 해상도와 최대 300,000배의 확대를 통해 고해상도 이미징을 구현합니다. 이 기기는 또한 다양한 요구 사항을 충족하도록 사용자 정의할 수있는 고급 분석 소프트웨어 (Advanced Analysical Software) 를 포함하여 다양한 제어 및 분석 기능을 제공합니다. 현미경에는 2 차 전자 영상 (SEI), 백스캐터 전자 영상 (BEI), 에너지 분산 분광학 (EDS) 및 전자 역 산란 회절 (EBSD) 과 같은 관측 모드가 포함됩니다. 이러한 모드를 사용하면 구성 인구 통계 (Compositional Demography), 지형 (Topography) 및 로컬 전기장 평가 (Evaluation of Local Electric Field) 를 포함한 광범위한 재료 특성을 자세히 분석 할 수 있습니다. S 4700 은 개체에 대한 3D 이미지를 제작할 수 있으며, 자동화된 운영 기능을 갖추고 있어, 시간이 절약되고 일관성 있는 작업을 수행할 수 있습니다. 또한 대규모 표본 단계, 자동 샘플 변경 메커니즘, 완전 자동 보기 시스템 (Fully Automated Viewing System), 자동 워크플로우 프로세스 구현 지원 등이 포함되어 있습니다. 전반적으로 HITACHI S-4700은 다양한 고성능 어플리케이션을 위해 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 이 기기는 다양한 제어 및 분석 기능을 통합하여 재료 특성 (material properties) 과 자동화 (automation) 기능을 자세히 분석하여 효율적인 운영을 지원합니다.
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