판매용 중고 HITACHI S-4700 #293805353

ID: 293805353
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-4700은 SEM (Scanning Electron Microscope) 으로, 나노 스케일 피쳐 크기까지 고해상도 이미징 및 재료 표면의 특징화를 위해 설계되었습니다. HITACHI S 4700 (HITACHI S 4700) 은 환경 SEM (Environmental SEM) 으로, 다양한 가스 및 진공 환경에서 작동하기 위한 것으로, 화학 반응 및 기타 공정을 관찰하는 능력과 같은 물질의 현장 관찰이 가능합니다. S-4700은 큰 진공실, 높은 안정성 및 매우 높은 진공 시스템을 갖추고 있습니다. 120kV 필드 방출 건이 특징이며, 듀얼 빔 건 (옵션) 으로 전자빔 전류가 적은 고해상도 이미징이 가능합니다. 가속기는 수차를 줄이고 매우 상세한 이미지를 제공하도록 설계되었습니다. S 4700의 통합 샘플 챔버에는 3 축 동작 스테이지가 장착되어 있어 팬 틸팅, 스크롤 및 자동 스테레오 보기가 가능합니다. 또한 부드럽고 정확한 전자 빔 초점을 보장하는 Piezo 스캔 단계가 특징입니다. HITACHI S-4700은 최대 10 개의 다른 검출기를 처리하고 SE, BSE, DE 등 다양한 이미징 모드를 제공 할 수있는 대형 전자 검출기를 갖추고 있습니다. HITACHI S 4700 은 고해상도 실시간 이미징 시스템을 갖추고 있으며, 기존의 SEM 에 비해 전압에 관계없이 고해상도 분석을 제공할 수 있을 정도로 고해상도 실시간 이미징 시스템을 제공합니다. S-4700 은 이미지 외에도 화학적, 형태적, 요소적 매핑, 자동화된 데이터 분석 등 다양한 자료 데이터를 제공할 수 있습니다. 또한 S 4700 에는 이미지 명암과 해상도를 최적화하는 고급 도구가 장착되어 있습니다. 전반적으로, HITACHI S-4700은 최고의 성능과 고해상도를 위해 설계되었으며, 연구원은 나노 스케일까지 재료 현상을 관찰하고 분석 할 수 있습니다. 첨단 구성 요소와 고급 소프트웨어 (Advanced Software) 를 통해 방대한 양의 데이터를 빠르고 정확하게 처리, 분석할 수 있으며, 이를 통해 재료에 대한 상세하고 정밀한 분석을 수행할 수 있습니다.
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