판매용 중고 HITACHI S-4700 #293800577

ID: 293800577
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-4700 스캐닝 전자 현미경은 HITACHI High-Technologies Corporation에서 제공하는 3 차원 이미징 및 분석 이미징 장비입니다. "고해상도 이미징 '과" 강력한 분석능력' 의 혁신적인 조합을 제공하는 첨단 차세대 시스템이다. 연구자들은 3 차원 구조에서 세부적인 정보를 얻을 수 있다. 이 장치는 필드-방출 전자 소스 (field-emission electron source) 로 구동되며 다양한 샘플 이미징 기술을 가능하게하는 고출력 조명기를 갖추고 있습니다. 해상도가 1nm인 초고해상도 이미지를 제공할 수 있습니다. 조리개 렌즈 (aperture lenses) 가 장착되어 다양한 배율과 깊이에서 샘플의 자세한 이미지를 얻을 수 있습니다. 또한, 기계는 기울기 샘플 스테이지 (tilt sample stage) 를 특징으로하여 샘플의 3D 이미징과 샘플의 넓은 영역을 다룰 수있는 자동 스테이지 (automated stage) 를 제공합니다. 원소 분석 측면에서, 공구에는 샘플의 질적, 정량적 원소 분석을 수행 할 수있는 EDX (에너지 분산 X-ray) 자산이 장착되어 있습니다. 이 모델은 최대 2 m (2 m) 의 초소형 분석을 가능하며 50 가지가 넘는 요소를 식별하고 분석 할 수 있습니다. 또한이 장비는 EDS (전자 회절 분광법), EELS (전자 에너지 손실 분광법) 및 SEMPA (전자 현미경 광방출 스캔) 와 같은 포괄적인 고급 분석 방법을 특징으로합니다. 운영 측면에서 볼 때, 시스템은 사용자 친화적이며, 다양한 직관적인 제어 옵션을 제공합니다. 사용자는 이중 원근 모니터 (dual-perspective monitor) 를 사용하여 샘플을 서로 다른 두 각도에서 동시에 볼 수 있습니다. 또한 [확대/축소], [대비 조정], [자동 초점] 기능과 같은 다양한 이미지 처리 기능을 제공합니다. 전반적으로 HITACHI S 4700 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 은 뛰어난 이미징 및 강력한 분석 기능을 제공하는 고급적이고 매우 다양한 이미징 머신으로, 샘플을 포괄적으로 이해할 수 있습니다.
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