판매용 중고 HITACHI S-4700 #293758113

HITACHI S-4700은 다양한 배율로 다양한 샘플의 이미징 및 분석을 위해 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 고화질 이미징 시스템이 특징이며, 고해상도 이미지를 제공하는 2 차 전자 검출기에서 최대 해상도 0.8nm (0.8nm) 를 갖습니다. HITACHI S 4700 (HITACHI S 4700) 에는 넓은 시야로 광범위한 전자 광학을 제공하는 높은 기울기 인 렌즈 (in-lens) 검출기가 장착되어 있습니다. 렌즈 내 검출기는 약 1 ~ 2nm 해상도의 이미징에 적합하며, 높은 명암과 선명한 이미지를 만들 수 있습니다. 또한, "렌즈 '는 보다 강력 하고 제어 된 가속 전압 을 갖추고 있어서 고품질" 이미징' 을 보장 한다. S-4700에는 광범위한 온도 조절이 정확한 환경 챔버가 있습니다. 이를 통해 정확한 온도에서 기본 환경에서 샘플을 분석 할 수 있습니다. 내장 펠티어 냉각 단계는 증발을 방지하고 정확한 샘플 제어를 보장하는 액체 질소 유사 상태의 샘플을 유지합니다. S 4700에는 광전자 백스캐터, 2 차 전자 신호, 다양한 유형의 샘플 분석을위한 차이 신호 (difference signal) 등 여러 가지 신호 검출기도 포함됩니다. 이 검출기는 또한 샘플을 분석 할 때 양적 (quantitative) 결과와 질적 (qualitative) 결과를 모두 개선하도록 설계된 분리 가능한 에너지 필터를 특징으로합니다. 또한, HITACHI S-4700 은 복잡한 표면 구조 또는 곡면 구조의 분석에 필수적인 기능인 3D 이미지를 수집하는 기능을 갖추고 있습니다. 내장 스테이지 컨트롤을 사용하면 기울기, 이동, 회전 샘플을 사용하여 시야각 (angle of view) 을 정확하게 제어할 수 있습니다. 기울기 기능을 사용하면 표본을 표면 아래 최대 70 ° 까지 이미징할 수 있습니다. 이 SEM에는 강력한 이미징 및 분석 옵션을 제공하는 고급 소프트웨어도 있습니다. 자동 입자 인식 (Automated Particle Recognition), 이중 이미지 처리 (Dual Imaging), 이미지 복구 도구 등의 소프트웨어 기능을 높은 확대 기능과 함께 사용할 수 있습니다. 전반적으로 HITACHI S 4700 스캐닝 전자 현미경은 표본을 이미징 및 분석하기위한 강력한 도구입니다. 고해상도 이미징 시스템 (high-resolution imaging system), 강력한 가속 전압 (powerful accelerating voltage), 환경실 (environmental chamber) 과 같은 독특한 기능을 통해 다양한 샘플을 정확하게 이미징하고 분석할 수 있습니다.