판매용 중고 HITACHI S-4700 #293602381

HITACHI S-4700은 고해상도 이미징, 고급 분석 기능, 사용자 친화적 설계를 결합하여 다양한 샘플에 대한 고품질 이미징 및 분석을 제공하는 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. HITACHI S 4700에는 고해상도 필드 방출 건 (field emission gun) 이 장착되어 있어 최대 250,000배의 배율로 샘플 표면을 고화질로 이미징할 수 있습니다. S-4700은 또한 샘플 재료의 원소 구성을 측정하는 통합 된 EDX (Energy Dispersive X-ray Microanalysis) 시스템을 갖추고 있습니다. 이 시스템은 샘플 재료의 서피스 (surface) 레이어에서 추적 요소를 감지하고 서브 마이크로미터 (sub-micrometer) 해상도의 요소 분포에 대한 정보를 제공 할 수 있습니다. S 4700 (S 4700) 은 정확하고 안정적인 샘플 배치를 위해 저진동 디자인의 완전 밀폐 된 자동 샘플 스테이지와 가변 압력 환경에서 표본 엠보싱 및 이미징 (embossing) 을 허용하는 가변 압력 분리 챔버 (detachable chamber) 를 갖추고 있습니다. 가변 압력 챔버 (variable pressure chamber) 는 또한 특수 막 및 격자, 작은 샘플 및 특수 샘플 홀더를 사용할 수 있습니다. HITACHI S-4700 은 또한 고속 자동 초점 모터를 갖추고 있어, 현미경의 초점을 실시간으로 자동 조정하여 이미징 효율성을 높입니다. HITACHI S 4700의 고효율 이미징 기능을 통해 고해상도 이미징 (failure analysis), 고해상도 이미징 (high resolution imaging), 고급 재료에 대한 구성 분석 (compositional analysis), 나노 재료에 대한 미세 구조 분석, 박막 장치의 이미징 등 다양한 어플리케이션에 이상적인 툴입니다. S-4700 은 또한 극단적 인 환경에서 이미징 (Imaging) 을 수행할 수 있으므로 나노 기술 연구에 이상적인 도구입니다. 전반적으로 S 4700 (S 4700) 은 다양한 샘플 재료에 대한 고해상도 이미징 및 원소 분석을 가능하게하는 최신 기술을 갖춘 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. HITACHI S-4700 은 하나의 강력한 패키지에 고해상도 이미징 (High-Resolution Imaging), 최고의 환경 이미징 (Extreme Environment Imaging), 고급 분석 기능을 결합하여 다양한 이미징 애플리케이션을 위한 신뢰할 수 있는 사용자 친화적인 툴을 제공합니다.