판매용 중고 HITACHI S-4700 #150536
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ID: 150536
FE SEM
1.5 nm resolution at 15 kV, 12 mm WD
2.5 nm resolution at 1 kV, 2.5 mm WD
Magnification ranges: 30x to 500,000x
Specimen tilt at 12 mm WD up to 45°
Brightness: ~ 2 X 109 A / cm2/sr
Energy spread: 0.2 to 0.3 eV
Sample capacity: 100mm diameter x 17mm thick H maximum
Oil-free vacuum systems pump column and sample exchange
Image modes: secondary and backscattered electron images
(2) Secondary electron detectors: above and below objective lens
Digital image formats:
BMP, TIFF, JPEG at 640 X 480, 1280 X 960, or 1560 X 1920 pixels
Includes:
Non-cryo sample holders
CryoSEM observation using EMITECH K-1250 cryo stage
Backscatter imaging at TV rates and low voltage (threshold 2.5 kV on gold) with Autrata modified YAG (yttrium aluminum garnet, cerium doped) crystal
KEITHLEY specimen current detector
Applications:
High-resolution topographic contrast (Se) and atomic number contrast (BSe) imaging of biological and non-biological samples in both room temperature and cryo modes
Applicable to imaging of immunogold labeled individual cells and bacteria
Specifications:
Secondary electron image resolution
2.1 nm guaranteed (at 1 kV)
1.5 nm guaranteed (at 15 kV and W.D. 12 mm or X-ray analysis position)
Backscattered electron image resolution (optional)
3.0 nm guaranteed (at 15 kV YAG detector, optional)
Cold finger and specimen exchange chamber as standard. Allowing sample exchange via airlock without repositioning
Optional integrated EDX system with 30 degree take-off angle
Fully digital imaging, image processing and archiving system
Dual SE detectors for versatile imaging (SE and BSE)
ExB energy filter
Beam shift: +/-15um.
HITACHI S-4700은 HITACHI Ltd에서 생산 한 S 시리즈 SEM의 일부인 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. HITACHI S 4700 은 고품질 이미지를 생성하고 사용자에게 친숙한 여러 가지 기능을 제공하는 고성능 SEM 입니다. S-4700 은 다양한 특성으로, 연구/교육 시설에서 사용할 수 있는 탁월한 선택입니다. FOV (Field of View) 를 통해 큰 샘플과 영역의 이미지를 캡처 할 수 있습니다. 고해상도 (High Resolution) 및 명암비 기능으로 백그라운드 노이즈가 최소화되어 세밀하고 선명한 이미지를 만들 수 있습니다. 이미지 스택 (image stack) 모드를 사용하면 다양한 시야각 및 확대율로 여러 개의 연속 슬라이스를 얻을 수 있습니다. S 4700은 다양한 샘플 유형에 적합합니다. 고속과 강력한 배율 범위 (최대 1000x) 는 나노 미터 수준의 해상도로 금속, 세라믹과 같은 것들을 관찰하는 데 적합합니다. 다양한 전압 설정 (0.5kV-30kV) 을 통해 다양한 모양, 크기, 재료를 가진 샘플을 관찰하기 위해 현미경을 빠르게 조정할 수 있습니다. 전자 빔의 작은 반점 (small spot) 및 열 크기 (column size) 옵션은 샘플 관찰에 더 유연성을 제공합니다. HITACHI S-4700은 사용자 친화적 기능도 많이 갖추고 있습니다. 대형 LCD 디스플레이 및 터치스크린 인터페이스를 통해 SEM의 모든 기능과 설정에 쉽게 액세스할 수 있습니다. 저온 모드, 자동 드리프트 보정 시스템, 자동 인증 카메라는 데이터 획득 프로세스를 단순하고 번거롭지 않게 만듭니다. 결국, HITACHI S 4700 은 고품질 이미지를 생성하고 사용자에게 친숙한 여러 가지 기능을 제공하는 고성능 SEM 입니다. 다용도가 높아 다양한 샘플과 자료를 탐색할 수 있습니다 (영문). 그 넓은 시야와 강력한 확대 범위는 나노미터 수준의 해상도로 금속 (metal) 과 도자기 (ceramics) 관찰과 같은 응용 분야에 적합합니다.
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