판매용 중고 HITACHI S-4700 Type II #9299929
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ID: 9299929
웨이퍼 크기: 12"
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 12"
HORIBA EMAX EDX included.
HITACHI S-4700 Type II는 모든 유형의 물질을 이미징 및 분석하기 위해 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 SEM에는 최첨단 렌즈 내 2 차 전자 검출기와 새로 설계된 전자 열이 있습니다. 전자 열은 노이즈 수준이 낮은 고해상도 이미지를 생성합니다. HITACHI S 4700 TYPE II의 확대 범위는 최대 500,000x에 도달하여 다양한 애플리케이션에 적합합니다. 이 모델은 또한 필드 방출 음극 (field emission cathode) 을 갖춘 대규모의 필드 깊이 검출기를 특징으로하며, 높은 샘플 안정성과 가장 낮은 소음을 보장합니다. 또한, 시스템에는 반복 가능하고 안정적인 샘플 위치를 조정하는 레이저 기반 샘플 포지셔닝 시스템이 포함되어 있습니다. S-4700 Type II에는 검사 된 샘플을 광범위하게 분석하기 위해 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 및 카토 돌 발광 (CL) 분광법을 포함한 다양한 검출기와 자동 분석 도구가 장착되어 있습니다. 수동 샘플 포지셔닝을 위해 설계된 S 4700 TYPE II는 x, y 및 z 축에서 자동 샘플 정렬 및 이동을 제공합니다. 또한, 모델의 큰 표본 챔버 (simimen chamber) 를 사용하면 최대 200mm의 샘플을 이미지화하고 분석 할 수 있습니다. DIC (differential interference contrast) 헤드, 스테레오 뷰어 및 편광 분석기 (polarization analyzer) 와 같은 다양한 광학 액세서리도 향상된 샘플 관찰에 사용할 수 있습니다. HITACHI S-4700 Type II 는 다양한 컴퓨터와 호환되며, 사용자는 이미지와 데이터를 빠르고 편리하게 전송할 수 있습니다. 이 SEM은 나노미터 (nanometer) 수준까지 샘플을 이미징 및 분석할 수 있으므로 고급 연구에 완벽한 선택입니다.
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