판매용 중고 HITACHI S-4700 Type II #9226563
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ID: 9226563
빈티지: 1998
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 6"
Substrates, 6"
Main unit:
HITACHI FE Tip (Vext 4.7)
(4) BARTON Ion pumps
Main chamber pump: Diffusion pump
Stage: Type 2 (5 Axes motor)
(2) SE Detectors
Ion pump power: HITACHI Electron
BSE Detector
Vibration isolation table
Utility:
(2) Rotary pumps
Down transformer: Auto transformer
(2) Pumping hose types
Resolution:
Accelerating voltage: 15 kV
Working distance: 12 mm - 1.5 nm
Accelerating voltage: 1 kV
Working distance: 2.5 mm - 2.5 nm
Magnification:
High magnification mode: 100x to 500,000x
Low magnification mode: 20x to 2,000x
Electron optics:
Electron gun: Cold cathode field emission type
Extracting voltage (Vext): 0 to 6.5 kV
Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30 kV (in 100 V steps)
Lens: 3 Stages electromagnetic lens, reduction type
Objective lens aperture: Movable aperture (4 Openings selectable / Alignable outside column)
Self-cleaning thin aperture
Astigmatism correction coil (Stigmator) type: Electromagnetic
Scanning coil type: 2 Stages electromagnetic-deflection
Specimen stage:
X Traverse: 0 to 25 mm
Y Traverse: 0 to 25 mm
Z Traverse: 2.5 to 27.5 mm
Tilt: -5° to +45°
Airlock type:
Specimen exchange: 100 mm (Diameter)
Display unit:
Display type: LCD Monitor
Photo CRT (Option): Ultra-high resolution (Effective field of view 120 × 90 mm)
Control PC: COMPAQ DC7700
Control panel: HITACHI Image control panel
Keyboard: HP 101 Keyboard (English)
Operating system: Windows XP
Scanning modes: (Normal scan)
Reduced area scan
Line scan
Sport analysis
Average concentration analysis
Scanning speeds: Fast, slow 0.5 to 40 / sec per frame for viewing 20/17, 40/33, 80/67, 160/167, 320/333 sec per frame for photo mode
Value of (50 / 60 Hz)
Fast: NTSC / PAL Signal
Evacuation system:
System type: Fully automatic pneumatic-valve system
Ultimate vacuum levels:
Specimen chamber: 7 x 10^-4 Pa
Electron gun chamber:
IP-1: 1 x 10^-7 Pa / Better
IP-2: 2 x 10^-6 Pa / Better
IP-3: 7 x 10^-5 Pa / Better
Vacuum pumps:
Electron optical system: (3) Ion pumps
Specimen chamber: Turbo molecular pump
(2) Oil rotary pumps
Compressor: Oil-less type compressor
Protection devices:
Power failure
Cooling-water interruption
Inadequate vacuum
1998 vintage.
HITACHI S-4700 Type II는 표면, 박막 및 기타 물질의 고해상도 이미지를 가능하게하는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 배율은 10,000 배 이상 가능하며 정교한 이미징 결과를 생성합니다. 이 시스템의 설계에는 뛰어난 정밀도, 휴대성 및 효율적인 작동이 통합되어 있습니다. HITACHI S 4700 TYPE II SEM은 광 열, 전자 캐비닛, 샘플 챔버 및 제어 콘솔로 구성됩니다. 고해상도 이미지를 만들기 위해 전자빔을 방출하기 위해 전자총 (field emission electron gun) 을 사용합니다. 이 전자 빔 (electron beam) 은 샘플의 표면을 세밀하게 스캔하기 위해 기둥 광학을 사용하여 변조 및 모양입니다. 또한 다양한 모양과 크기를 가진 표본을 보유 할 수있는 큰 표본 테이블 (simimen table) 이 있습니다. 그 다음, "빔 '을 가속 시켜" 샘플' 에 집중 시켜서, 전자 가 "샘플 '에 부딪히면 방전 되는 2 차 및 역산포 전자 로부터 검출 되는 신호 를 발생 시킨다. 이 정보는 조정 가능한 게인 (gain) 및 신호 처리 제어 장치를 포함하는 제어 콘솔에 표시됩니다. 또한 SEM 제어판을 사용하여 빔 전류/전압, 스캔 속도, 스팟 크기, 이미지 저장 설정을 조정할 수 있습니다. S-4700 Type II에는 TEM (Transmission Electron Microscopy) 모드가있는 초점 조정 손잡이가 있으며, 이는 이온 슬라이스 막에 대한 보다 자세한 이미지를 제공 할 수 있습니다. 또한 깊이 프로파일 링 (depth profiling) 을 사용하여 다양한 확대에서 표본의 깊이 프로파일을 모니터링할 수 있습니다. 또한, 밝기 조정 노브 (brightness adjustment knob) 는 사용자가 신호 노이즈 레벨을 줄이고 더 많은 대조 이미지를 생성하는 기능을 제공합니다. 이 시스템은 세포 생물학 (cell biology), 재료 과학 (materials science), 금속학 (metallography) 등 다양한 응용 분야에 적합한 매우 고품질 이미지를 생성합니다. 실험실 사용의 엄격함을 견뎌내도록 설계된, 매우 잘 만들어진 시스템입니다. 손쉽게 작동할 수 있으며, 휴대성을 통해 현장 또는 원격 용도로 편리하게 사용할 수 있습니다.
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