판매용 중고 HITACHI S-4700 Type II #293802476
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ID: 293802476
빈티지: 2002
Scanning Electron Microscope (SEM)
EDS
Does not include PC
2002 vintage.
HITACHI S-4700 Type II는 SEM (Advanced Scanning Electron Microscope) 으로 연구자에게 물리적 접촉없이 표면을 검사 할 수있는 능력을 제공하도록 설계되었습니다. 이 SEM 모델에는 고해상도 이미징 및 분광 테스트에 필수적인 여러 기능이 탑재되어 있습니다. 이러한 기능에는 매우 정확한 전자 광학 장비, 높은 진공 챔버 및 저소음 전자 총 (low-noise electron gun) 이 포함됩니다. HITACHI S 4700 TYPE II의 전자 광학 시스템에는 최대 10 나노 앰프 (nanoamps) 의 수차 교정 대상 렌즈가 장착되어 있습니다. 이 고해상도 렌즈를 통해 연구원들은 최대 0.7 nm 해상도의 고대비 이미지를 얻을 수 있습니다. 또한 S-4700은 동시 인컬럼 빔 스티어링 및 에너지 선택을 수행 할 수 있습니다. 컬럼 내 빔 스티어링 (in-column beam-steering) 기술을 사용하여 연구자들은 한 번의 패스로 다양한 전자 빔 에너지로 샘플의 여러 영역을 스캔하여 시험 절차를 단축 할 수 있습니다. S-4700 Type II의 높은 진공실에는 HITACHI 개발 듀얼 모드 (Dual-Mode) 고 진공 진공 펌핑 장치가 장착되어 최소 잔류 가스 압력으로 안정적인 분석을 보장합니다. 그것은 다양한 고전압 공급을 갖추고 있으며, 표본 표면의 전자 폭격으로 인한 충전을 방지합니다. S-4700에는 저소음 전자 총이 장착되어 전자 빔 밝기를 줄입니다. 소음 감소 기능과 함께 S-4700에는 고감도, 비파괴 전자 탐지기 (destructive electron detector) 도 제공됩니다. 따라서 다른 SEM 모델에 비해 비파괴적, 고해상도 이미징, 분광 테스트가 필요한 다양한 애플리케이션을 사용할 수 있습니다. 주제 분석 능력은 S 4700 TYPE II에서도 가능합니다. 이 기계는 실시간 에너지 분산 X-ray (EDX) 분광법으로 표본 표면의 다양한 요소를 식별하고 측정 할 수 있습니다. 표면의 모든 요소의 EDX 신호를 측정함으로써, 연구자들은 추가 정보로 그들의 표본을 분석 할 수있다. HITACHI S-4700 Type II 는 강력한 SEM으로, 저가속 전압에서 고해상도 이미지와 스펙트럼을 얻을 수 있습니다. 한 번의 패스 (pass) 로 여러 샘플 영역을 분석하는 능력을 통해 연구자들은 샘플을 빠르고 정확하게 조사 할 수 있습니다. 또한, EDX 분광법 (EDX spectroscopy) 기능을 사용하여 표본 표면의 원소 조성에 대한 통찰력있는 지식을 얻을 수 있습니다. 이러한 기능을 통해, HITACHI S 4700 TYPE II는 전자 분석 스캔이 필요한 모든 실험실을위한 필수 도구입니다.
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