판매용 중고 HITACHI S-4700 Type II #293587272

HITACHI S-4700 Type II는 최대 300,000 배의 표본의 고해상도 이미징을 제공하도록 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 진동을 줄이고 이미지 품질을 향상시키는 새로운 방진 (anti-vbration) 디자인이 특징입니다. HITACHI S 4700 TYPE II는 샘플 단계, 광학 시스템 및 점진적 배율을 포함하는 모듈식 장비입니다. 광학 장치에는 전자 총, 기둥 렌즈, 오브젝티브 렌즈 및 이미징 머신이 포함됩니다. 샘플 스테이지는 이동할 수 있으며, 다양한 샘플 크기를 수용할 수 있습니다. 점진적 확대 (progressive magnization) 기능은 세부 영역의 고해상도 이미지를 제공하며, 최대 배율은 300,000 배입니다. 내장된 이미지 분석 기능을 통해 빠르고 간편한 데이터 조작 및 분석을 수행할 수 있습니다. S-4700 Type II에는 이미지 품질을 향상시키기 위해 영역 탐지기 (area detector) 와 신호 처리 도구가 장착되어 있습니다. 영역 검출기는 신호 피크 (signal peak) 와 밸리 (valley) 의 더 넓은 감지 범위를 허용하는 반면, 신호 처리 에셋은 신호 처리, 왜곡 수정 및 다양한 시야각을 가능하게합니다. 검출기의 신호 처리 (signal processing) 는 명암비 및 명암비 해상도를 향상시켜 샘플 피쳐를 보다 자세히 볼 수 있도록 합니다. 이 SEM 을 사용하면 대비 (contrast), 밝기 (brightness), 확대 (magnified) 뷰 등 다양한 이미지 처리 기능을 조합하여 샘플의 밝고 대조 이미지를 캡처할 수 있습니다. S 4700 TYPE II에는 고해상도 이미징 외에도 광시야각 이미징 모델이 장착되어 있습니다. 이 장비는 표본의 초점 깊이를 높일 수 있지만, 고해상도 이미징을 제공할 수 있습니다. 넓은 시야 (wide field of view) 를 통해 넓은 영역에서 샘플의 세밀한 세부 사항을 캡처할 수 있습니다. 또한 대비 반전 (Contrast Reversion) 및 대비 스트레칭 (Contrast Stretching) 과 같은 다양한 대비 모드가 있으며, 이미지 대비를 향상시키고 더 세밀한 세부 사항을 드러내는 데 사용할 수 있습니다. HITACHI S-4700 Type II는 다양한 표본 준비 방법도 제공합니다. 내장 스퍼터 코터는 표본 표면을 균일하게 코팅하여 다중 레벨 물질 분석 (multi-level substance analysis) 및 향상된 이미지 품질을 허용합니다. 이중 이온화 원 (dual ionization source) 은 화학 종 분석을 가능하게하며, 뒤 흩어진 전자 검출기는 샘플의 상세한 지형 분석을 가능하게한다. HITACHI S 4700 TYPE II는 매우 작은 표본을 연구, 분석 및 문서화하는 데 유용한 도구입니다. 고급 설계와 기능을 갖춘 이 SEM 은 고해상도 이미징 (high resolution imaging) 과 상세한 표본 분석이 필요한 모든 애플리케이션에 적합합니다.