판매용 중고 HITACHI S-4700 Type I #9396172

HITACHI S-4700 Type I Scanning Electron Microscope (SEM) 는 특히 재료 과학 분야에서 뛰어난 이미징 기능을 제공하는 최첨단 SEM입니다. 고급 이미징 기능을 갖춘 탁월한 이미징 (Imaging) 기능을 제공하며, 강력한 분석 소프트웨어를 통해 자세한 샘플 분석을 수행할 수 있습니다. 이 SEM은 전자 총, 전자 광학 및 샘플 단계로 구성됩니다. 전자 총 (electron gun) 은 하전 입자의 집중점 공급원으로, 높은 전류 밀도에서 고 에너지 전자 빔을 생성 할 수 있습니다. 여기에는 전자 총, 전자 광학 및 샘플 스테이지를 수용하는 표본 챔버가 포함됩니다. 전자 광학에는 몇 가지 렌즈 세트와 디플렉터 (deflector) 가 포함되어 있으며, 이는 전자 빔을 형성하고 지시합니다. 예제 단계는 고진공 (high-vacuum) 플랫폼으로, 사용자가 샘플을 정확하게 배치하고 회전하여 관찰할 수 있습니다. S-4700 Type I은 CCD (Charged-Coupled Device) 이미징 장치를 사용하여 전자 빔 신호를 보이는 이미지로 변환합니다. 이 이미징 장치는 빠르고 효율적으로 이미지를 캡처하고 깨끗하고 고해상도 이미지를 생성합니다. 또한 이 SEM은 EDX (Energy-Dispersive X-ray) 부착 옵션을 제공하여 샘플에서 X-ray 마이크로 분석을 수행 할 수 있습니다. HITACHI S-4700 Type I에는 현미경의 모든 측면을 제어하기 위한 고성능, 사용하기 쉬운 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 가 장착되어 있습니다. GUI에는 이미지 조작, 이미지 측정 도구, 데이터 수집, 분석 작업 등의 중요한 기능이 포함되어 있습니다. 또한 사용자는 각 샘플에 대해 최대 4 개의 작동 매개 변수 (예: 확대, 총 파장, 전압, 전류) 를 사용자 정의할 수 있으며 스캔 속도, 스캔 속도 등의 조정 가능한 매개 변수도 사용할 수 있습니다. S-4700 Type I은 자동 SEM 매핑, 3D 분석 재구성, 나노 입자의 입자 크기 및 이미징, 형태 분석 등 다양한 실제 응용 프로그램을 제공하며, 모두 뛰어난 이미지 해상도와 정확도를 제공합니다. 탁월한 분석 기능을 통해 재료 과학, 나노 재료, 환경 모니터링 (environmental monitor) 과 같은 응용 프로그램에 이상적인 툴이 됩니다. HITACHI S-4700 Type I 은 연구실과 산업실험실 모두에 적합하며, 모든 애플리케이션에 안정적이고, 경제적이며, 효율성이 높은 SEM 을 제공합니다.