판매용 중고 HITACHI S-4700 II #293814500

ID: 293814500
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) EDAX detecting unit Stage control Trackball control ExB filter Critical Dimension (CD) measurement system Operating System (OS): Windows Column-mounted turbomolecular pump.
HITACHI S-4700 II는 고급 현미경 응용을 위해 설계된 고성능 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 현미경의 주요 특징으로는 통합 이미지 캡처 장비, 우수한 에너지 해상도, 최대 × 3000의 고해상도 이미징, 광시야각, 고전압 광학, 고해상도 이미징을위한 고전압 지수 (HVI) 기능 및 독특한 VFD (Visual Form Design) 검출기. 또한 Visual Form Design과 혁신적인 "Nanowise" 시스템의 조합은 현미경의 이미징 기능을 최적화합니다. HITACHI S 4700 II 의 통합 이미지 캡처 장치는 고해상도 이미징 및 강력한 이미지 처리 기능을 제공합니다. 전자 검출기와 시각 형태 디자인 검출기의 두 가지 유형의 검출기를 사용합니다. 전자 탐지기 는 미세 한 구조 를 영상 하는 데 이상적 인 반면, 시각 형태 의 설계 탐지기 는 커다란 구조 를 시각화 하는 데 이상적 인 것 이다. 고전압 광학으로 더 높은 해상도의 이미지를 얻을 수 있습니다. 넓은 자기장 (magnetic field of view) 을 사용하면 더 넓은 영역을 볼 수 있습니다. S-4700-II의 고전압 지수 (HVI) 기능은 최대 × 3000의 고해상도 이미징을 제공합니다. 이를 통해 사용자는 샘플에서 가장 작은 세부 정보 (Details) 를 관찰하고 구별할 수 있습니다. 이 기능을 사용하면 다른 샘플에 대한 전압 (voltage) 및 전류 (current) 설정을 조정하고 최상의 결과를 얻을 수 있습니다. "나노 와이즈 (Nanowise)" 기계는 고급 이미지 분석 기능을 제공하여 현미경의 이미징 기능을 더욱 향상시킵니다. 독특하고 사용자에게 친숙한 VFD (Visual Form Design) 검출기로 설계된 S 4700-II는 직관적인 디스플레이를 통해 사용자가 전자 탐지기에서 VFD로 쉽게 전환 할 수 있습니다. VFD 검출기는 이미지를 처리, 향상시켜, 사용자가 쉽게 이미지를 해석할 수 있도록 합니다. 또한 VFD의 고급 처리 기능 (Advanced Processing Capability) 은 이미지 노이즈를 줄여 이미지를 보다 선명하게 볼 수 있게 해 줍니다. 결론적으로, HITACHI S-4700-II는 고급 현미경 응용을 위해 설계된 고도의 스캐닝 전자 현미경입니다. 이미지 캡처 도구, 우수한 에너지 해상도, 최대 × 3000의 고해상도 이미징, 광시야각, 고전압 광학, 고해상도 이미징을위한 고전압 지수 (HVI) 기능 및 독특한 VFD (Visual Form Design) 검출기. 또한 Visual Form Design과 Nanowise 에셋의 조합은 현미경의 이미징 기능을 향상시킵니다. HITACHI S 4700-II (HITACHI S 4700-II) 는 우수한 성능을 제공하여 다양한 분야의 과학자와 연구원에게 이상적인 선택입니다.
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