판매용 중고 HITACHI S-4700 II #293605918

HITACHI S-4700 II는 주사 전자 현미경 (SEM) 의 모델입니다. 재료 분석 분야에 사용되는 고성능 기기입니다. HITACHI S 4700 II는 다양한 기능을 제공하여 샘플 관찰, 표면 조성 분석, 원소 분석, 이미징 등 다양한 애플리케이션에 적합합니다. S-4700-II에는 가변 압력 챔버 (variable pressure chamber) 가 있어 높은 진공 또는 가변 압력 하에서 SEM 이미징을 수행 할 수 있으며, 사용자가 기기에서 습하거나 느슨한 샘플을 검사 할 수 있습니다. 또한 -80 'C ~ 100' C의 온도 범위를 가진 Peltier 요소 냉각 단계를 특징으로합니다. 이로써 다른 온도에서 샘플의 이미지 (이미지) 를 다른 단계로 전송하지 않아도 됩니다. 이 장치에는 고해상도 이미징 및 원소 분석을위한 고해상도 검출기가 있습니다. 2 차 (저 진공) 전자 검출기는 넓은 시야를 가지고 있으며, 이는 넓은 영역 이미징 및 원소 분석에 이상적입니다. S 4700-II 는 뛰어난 안정성과 정확성을 제공하는 고정밀 (high-precision) 모터 시스템으로, 최고 해상도의 이미지를 캡처할 수 있습니다. '자동 단계 (Automated Stage)' 와 '기능 (Feature)' 을 갖추고 있어 기기를 빠르게 설정하고 쉽게 분석을 수행할 수 있습니다. 이 장치에는 샘플 관찰 및 분석을 용이하게하기 위해 다양한 소프트웨어 도구가 제공됩니다. 표준 스캐닝 모드 외에도 S 4700 II는 원소 분석을위한 EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy), 낮은 Z 요소의 이미징을위한 BSEI (Back Scatter Electron Imaging), In-lens 및 In-lens 이미지와 같은 다양한 고급 기능을 제공합니다. 이미지. 결론적으로, HITACHI S 4700-II (HITACHI S 4700-II) 는 고급 스캐닝 전자 현미경으로, 재료 분석에서 다양한 응용 분야에 이상적인 기능과 기능을 제공합니다. 가변 압력 챔버 (variable pressure chamber) 와 펠티어 (Peltier) 요소 냉각 단계와 샘플 관찰 및 분석을 용이하게하는 고해상도 검출기 및 소프트웨어 도구가 있습니다. 이 기기에는 고정밀 모터 시스템이 장착되어 있어 안정성과 정확성이 뛰어납니다. 고품질 (HA) 이미지와 신뢰할 수 있는 데이터를 제공하는 정교한 기구를 찾는 연구자와 과학자들에게 이상적인 선택이다.