판매용 중고 HITACHI S-4700 II #293592008

HITACHI S-4700 II는 최강의 스캐닝 전자 현미경으로, 광범위한 어플리케이션을 위한 강력한 이미징 기능을 제공합니다. 나노 스케일 (nanoscale) 수준에서 개체의 상세한 시각화를 가능하게 하는 높은 정밀도와 해상도를 제공합니다. HITACHI S 4700 II는 표면의 2 차 전자 (SE), 백스캐터 전자 (BSE) 및 전송 전자 (TE) 의 고품질 수집을 허용하는 최상위 장착 차동 인 렌즈 검출기를 사용합니다. 기울기 범위가 +/- 60도 인 이중 기울기 표본 단계 (double-tilt surmimen stage) 를 가지므로 평면이 아닌 샘플을 이미징 할 때 유연성이 있습니다. 또한 동력 초점 드라이브 (Motorized Focus Drive) 를 제공하여 직접 사용자 상호 작용 없이 자동으로 이미지 초점을 조정할 수 있습니다. S-4700-II는 실시간 이미지 스티칭, 몽타주, 자동 입자 분석 등 다양한 이미지 처리 기능을 제공합니다. 또한 원격 액세스, 여러 이미지의 자동 구입, 원격 작업을 위한 S 4700-II 장치 상호 연결 기능 등 다양한 자동화 기능을 제공합니다. S 4700 II 는 오픈 소스 워크플로우 애플리케이션인 AllView 를 활용하여 대규모 데이터 세트를 손쉽게 관리, 분석, 아카이빙할 수 있습니다. [AllView] 를 사용하면 이미지와 상호 작용하고, 보고서를 생성하며, 사용자 간에 데이터를 공유하여, 샘플과 표본을 자세히 파악할 수 있습니다. HITACHI S 4700-II는 고급 스캐닝, 이미징 및 처리 기능과 함께 나노 기술, 재료 과학, 생명 공학 분야의 연구를위한 귀중한 도구이며, 단일 셀 (single cell) 에서 복잡한 구조 및 재료에 이르기까지 다양한 이미지 샘플을 제공합니다. HITACHI S-4700-II (HITACHI S-4700-II) 는 최고 수준의 정확도와 해상도로 샘플을 이미지와 분석할 수 있는 매우 강력하고 사용자에게 친숙한 툴을 제공합니다.