판매용 중고 HITACHI S-4500 #9235002

HITACHI S-4500 스캐닝 전자 현미경은 광범위한 샘플과 재료의 이미징 및 특성화를위한 다용도 도구입니다. 이 SEM 은 일상적인 이미지 처리, 장애 분석 작업 등에 탁월한 선택입니다. HITACHI S 4500에는 고해상도 스캐닝 전자 검출기와 백스캐터링 검출기가 있습니다. 이 두 검출기의 조합으로 다양한 샘플의 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 및 재료 분석 (material analysis) 이 가능합니다. S-4500에는 2개의 높은 배율 렌즈 (최대 100kX) 가 있어 매우 높은 해상도의 이미지를 제공합니다. 또한 트윈 렌즈 시스템은 동시 이미징 및 스펙트럼 분석을 제공합니다. 이 기기는 전자 빔 (electron beam) 에 의해 만들어진 인공물을 최소화하여 고해상도 이미징 (high resolution imaging) 과 미세 디테일 (detail detail) 을 가능하게하는 전자원의 일종인 FEG (field emission gun) 를 사용합니다. 강력한 피드백 빔 디플렉터 (force feedback beam deflector) 가 특징이며, 기기가 넓은 샘플 영역에서 부드럽게 기동할 수 있습니다. 처짐 시스템은 또한 S 4500이 다양한 이미징 기술을 수행 할 수있게합니다. HITACHI S-4500에는 다양한 독립 탐지기 헤드 (detector head) 가 있어 감도, 명암비, 해상도를 높일 수 있습니다. 또한 자동 스테이지 기능과 시각적 표본 탐색이 특징입니다. HITACHI S 4500은 저온에서의 이미징을 위한 cryo-holder, 3D 이미징을 지원하는 샘플 로테이터 등 다양한 액세서리와 통합 될 수 있습니다. S-4500은 매우 경제적이며, 뛰어난 이미지 품질과 빠른 이미징 속도를 제공합니다. 이 제품은 신뢰할 수 있고 사용하기 쉬운 장치로, 일상적인 이미징 및 장애 분석 작업에 모두 사용할 수 있습니다. 또한 3D 이미징 (3D Imaging) 과 원소 분석 (Elemental Analysis) 에 대한 탁월한 지원을 제공하여 사용자가 샘플 자료를 더욱 자세히 파악할 수 있습니다.