판매용 중고 HITACHI S-4500 #9230713

HITACHI S-4500
ID: 9230713
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-4500은 강력한 성능과 뛰어난 이미징 품질을 제공하는 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 현미경은 뛰어난 디테일과 선명도로 이미지를 제작할 수 있는 고급 이미징 (imaging) 기능을 갖추고 있습니다. 현미경 챔버 내에서 만들어진 높은 진공 환경 (high vacuum environment) 은 샘플의 심층적 분석 및 이미징을 가능하게하며, 이는 구조에 대한 더 나은 이해를 제공합니다. 강력한 영상 시스템은 시료를 통과하고 전자 탐지기 (electron detector) 에 의해 검출되는 미세 배열 빔을 생성하는 전자 총 (electron gun) 으로 구성됩니다. 그런 다음, 빔을 디지털 이미지를 구성하는 데 사용되는 신호로 변환합니다. HITACHI S 4500에 의해 생성 된 이미지는 다른 전통적인 현미경 방법으로 생성 된 이미지보다 매우 확대되고 더 세부화 될 수 있으며, 재료의 파괴적이지 않은 나노 스케일 (Nanoscale) 이미징을 허용합니다. S-4500 스캐닝 드라이브 (Scanning Drive) 를 사용하면 샘플에서 정보를 신속하게 수집할 수 있으므로 샘플을 신속하게 분석, 이미징할 수 있습니다. 이 "드라이브 '에는" 샘플' 표면 의 작은 변화 를 자동 탐지 할 수 있는 자동화 된 기능 이 갖추어져 있으며, 보다 세부적 인 "이미지 '를 만들기 위하여 전자" 빔' 을 영리 하게 인도 한다. S 4500은 사용자 친화적으로 설계되었으며, 편리한 운영 기능을 갖추고 있습니다. 예를 들어, 자동 진공 코트 (automatic vacuum coat) 기능을 사용하면 수동 디가스가 필요 없이 빠르고 정확한 증착이 가능하므로 높은 분석 처리량을 구현할 수 있습니다. 또한 HITACHI S-4500에는 기존의 SEM 기능을 능가하는 여러 가지 고급 기능이 장착되어 있습니다. 예를 들어, 고속 백스캐터 전자 검출기는 샘플 표면에서 생성 된 이온을 검출하여 고품질 원소 분석을 가능하게합니다. 이 시스템에는 에너지 분산 X-Ray 탐지기 (X-Ray Detector) 가 장착되어 있어 샘플의 다양한 종류의 재료를 식별하고 분석 할 수 있습니다. 전반적으로 HITACHI S 4500은 작동이 쉽고 탁월한 이미지 처리/분석 기능을 제공하는 첨단 고성능 SEM 시스템을 제공합니다. 강력한 이미징 (Imaging) 및 분석 시스템 (Analytical System) 을 활용하면 재료와 샘플에 대한 귀중한 통찰력을 얻을 수 있으므로 보다 정확하고 철저한 분석을 수행할 수 있습니다.
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