판매용 중고 HITACHI S-4500 #9194487

ID: 9194487
Scanning electron microscope (SEM).
HITACHI S-4500 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 현미경 표본의 높은 확대를 허용하는 고급 장비입니다. 이 현미경은 전자를 사용하여 나노 수준의 물체를 검사합니다. 이 기법은 샘플을 검사하는 데 비교할 수없는 깊이와 정확도를 허용합니다. HITACHI S 4500은 일반적으로 30 ~ 500kV의 가속 전압 범위에서 작동하여 1 나노미터 (1 나노미터) 의 작은 물체의 자세한 이미지를 얻을 수 있습니다. 이러 한 형태 의 현미경 은 특히 의학 연구 및 재료 과학 분야 에 유용 하다. "뉴우요오크 타임즈" 지는 이렇게 보도 한다. S-4500에는 x- 레이 및 기타 입자를 측정하기위한 다양한 특수 검출기 (specialized detector) 가 있으므로 더 깊은 검사가 가능합니다. S 4500은 최대 20 나노미터 해상도의 다양한 확대 기능을 갖추고 있습니다. 이 해상도를 사용하면 샘플의 다양한 피쳐를 정확하게 관찰, 식별, 분석할 수 있습니다. BSE (Backscattered Electron Imaging) 는 표본의 3D 관점을 가능하게하여보다 포괄적 인 샘플을 이해할 수 있습니다. HITACHI S-4500에는 다양한 자동 기능과 옵션이 있습니다. 여기에는 자동 이미지 처리 (Automatic Image Processing), 효율적이고 정확한 인건비 절감, 자원 공유 및 개인 데이터 액세스 (Private Data) 를 지원하는 전용 사용자 계정 (User Account) 기능 등이 포함됩니다. 이 현미경에는 강력한 분석 소프트웨어 (analysis software) 패키지가 있어 여러 이미지 파일을 하나의 이미지로 통합할 수 있습니다. 이 기능을 통해 표본에 대한 보다 포괄적인 이해가 가능하며, 동영상과 3D 모델 생성 (generation of video and 3D model) 도 가능합니다. 통합 소프트웨어는 또한 파형 분석, 위상 대비 이미징, 편광 분석 (polarization analysis) 과 같은 광범위한 기능을 제공합니다. HITACHI S 4500은 뛰어난 성능을 얻기 위해 강력한 디지털 전자 시스템 (Digital Electronics System) 을 사용하여 운영 및 결과의 정확성을 극대화합니다. 이 시스템은 사용자 친화적이며, 이를 통해 현미경의 효율적이고 효과적인 작동이 가능합니다. 전반적으로 S-4500 Scanning Electron Microscope는 강력하고 고도의 장비입니다. 그 우월 한 기능 을 통해, 더 깊이 조사 하고, 현미경적 인 표본 들 에 대한 이해 를 얻을 수 있으며, 따라서 그 표본 에 대한 보다 포괄적 인 이해 를 얻을 수 있다. S 4500은 다양한 전문 탐지기 (specialized detector) 와 통합 분석 소프트웨어 (integrated analysis software) 를 통해, 자세한 미세한 조사를 위해 연구 기관 및 의료 실험실을 위한 완벽한 선택입니다.
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