판매용 중고 HITACHI S-4500 #9169489
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ID: 9169489
Scanning electron microscope (SEM)
Specifications:
Photo CRT:
Ultra high resolution type
Recording area: 120 x 90 mm
Scanning mode:
Normal scan
Split screen / Dual magnification
Line scan
Position setting
Spot
AAF (Analysis area finder)
SAA (Selected area analysis)
Oblique mode
Scanning speed:
0.3, 2, 10, 20 S / Frame for viewing mode
TV, 40,80, 160 S / Frame for photo recording mode
Signal processing / Operation mode:
Automatic brightness & contrast control
Gamma control
Dynamic stigmator monitor
Auto focus
Automatic stigmator
Electrical image shift: ± 20 µm With WD 20 mm
Vacuum system:
Vacuum sequence: Full-auto pneumatic valve system
Ultimate vacuum:
7 x 10-4 Pa (Specimen chamber)
1 x 10-7 Pa (Electron gun chamber)
Vacuum pumps:
Electron optics: (3) Ion pumps
Specimen chamber:
(1) Diffusion pump
(2) Rotary pumps
Compressor
Ion pumps:
IP1= 0.1 x 10-7
IP2= 0.5 x 10-7
IP3= 6 x 10-7
Accessories:
THERMO-SCIENTIFIC EDS Tank
EDS Computer / Controller: No
GW Microchannel:
Control
Detector: No
GW Infrared: Camera control and camera on system
Control panel on SEM
Small manual stage
Performance:
Resolution: 1.5 nm
Accelerating voltage: 30 kV
Working distance: 7 mm
Magnification:
High magnification mode: 50x to 500,000x
Low magnification mode: 20x to 1,000x
Electron optics:
Electron gun: Cold-cathode field emission electron gun
Emission extracting voltage (Vext): 0 to 6.5 kV
Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30 kV (Variable in 100 V step)
Lens system: 3-Stage electromagnetic lens
Objective aperture:
Movable aperture ((4) Opening selectable / Alignable outside column)
Self-cleaning type thin aperture
Stigmator: Electromagnetic type
Scanning coil: 2-Stage electromagnetic type
Display unit:
CRT: (2) 12" Display monitors including memory unit.
HITACHI S-4500은 큰 표본에서 작은 미세 구조에 이르기까지 다양한 샘플의 표면을 영상화하기 위해 특별히 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. HITACHI S 4500은 최대 2 만 7000 배, 초고해상도 0.7 nm 크기로 한 샘플 내에 포함된 방대한 양의 디테일을 공개할 수 있습니다. S-4500은 2 개의 반구 거품 렌즈와 투영 렌즈로 구성된 반 아포크로마 틱 오브젝티브 렌즈 (semi-apochromatic objective lens) 를 사용하여 고 에너지 전자 빔을 미세한 지점에 집중시킵니다. "빔 '은" 래스터' 무늬 로 표본 을 가로질러 주사 되고 "샘플 '표면 에서 반사 된 전자 는 전자 탐지기 에 수집 된다. 그런 다음 이러한 전자는 샘플 표면의 3D 표현을 구성하는 데 사용되는 디지털 이미지 (digital image) 로 변환됩니다. 또한 S 4500은 자동 (automated) 통합 측정 및 이미징 기능을 제공하여 생성된 이미지에서 직접 측정할 수 있습니다. 이를 통해 물리적 측정 및 전기 특성을 포함한 샘플을 정량적으로 분석 할 수 있습니다. 이러한 측정은 광범위한 산업 및 연구 응용 분야에 중요합니다. HITACHI S-4500에는 진공 환경 챔버 (vacuum environmental chamber) 가 있어 진공 조건에서 검사해야 할 샘플과 함께 사용할 수 있습니다. 이것은 생물학적 조직, 반도체 장치 등의 샘플을 검사하는 데 특히 중요합니다. 또한 SEM (Automated Simplimen Exchange System) 은 진공을 깨지 않고도 샘플을 빠르고 효율적으로 변경할 수 있도록 자동화된 표본 교환 시스템을 포함합니다. HITACHI S 4500은 과학자와 엔지니어가 주어진 샘플의 표면을 복잡한 세부 사항으로 연구 할 수있는 매우 상세한 이미지를 생성합니다. 이를 통해 결함을 분석, 식별하고, 재료 구성을 분석하고, 다양한 구성 요소와 제품의 미세 구조에 대한 더 큰 통찰력을 얻을 수 있습니다. 따라서, HITACHI의 S-4500은 자동차 공학, 마이크로 일렉트로닉스, 재료 과학 및 바이오 이미징에 이르기까지 많은 산업에서 귀중한 도구입니다.
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