판매용 중고 HITACHI S-4500 #293822131

HITACHI S-4500 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 가벼운 현미경의 능력을 넘어 입자, 표면 및 구조를 확대하는 데 사용되는 고도의 이미징 도구입니다. 이 현미경은 비전도 샘플의 이미지를 빠르게 획득하고, 치수를 정확하게 측정하는 데 귀중한 장치입니다. HITACHI S 4500은 스캐닝과 전송의 두 가지 모드로 전자 빔을 사용합니다. 스캐닝 (scanning) 모드에서 전자 빔 (electron beam) 은 다양한 위치에서 샘플의 표면을 스캔하도록 설정되어 있으며, 3 차원 렌더링을 만드는 데 도움이 될 수있는 일련의 더 명확한 이미지 슬라이스를 생성합니다. 전송 모드 (Transmission Mode) 는 샘플의 두께 (Thickness) 나 다른 내부 구조를 분석하는 데 사용되므로, 사용자가 샘플의 구성을 완전히 이해할 수 있습니다. SEM은 흑백 (Black and White) 과 색상 (Color) 으로 이미지를 생성하므로 요소와 컴포넌트를 더 쉽게 구분 할 수 있습니다. 이미징 속도도 다른 현미경보다 훨씬 빠르며, 초당 최대 97 개의 이미지를 찍을 수 있습니다. 이를 통해 사용자는 손쉽게 이미지를 처리할 수 있고, 디지털 보고서 (digital report) 를 생성하여 상대적으로 쉽게 수행할 수 있습니다. 또한 SEM 은 이미징 기능 외에도 샘플 (sample) 의 지형을 측정할 수 있는 기능도 제공합니다. EDAX 정량 X- 선 분광법 시스템을 통해 사용자는 샘플의 원소 구성을 이미지화하고 측정 할 수 있습니다. 광학 이미징과 함께, 사용자는 샘플의 물질과 품질을 확인할 수 있습니다. S-4500은 또한 진공실 (vacuum chamber) 과 같은 수많은 혁신적인 설계 기능을 갖추고 있으며, 이를 통해 한 번에 몇 시간 동안 샘플을 보존할 수 있습니다. 정밀도 (precision) 의 심층 이미징 시스템은 다양한 크기와 모양의 샘플에서 정확하고 정확한 데이터를 수집할 수 있도록 합니다. 내장형 하이빔 전류는 스캐닝 및 분석 시간을 줄여 전반적인 성능과 정확도를 향상시킵니다. S 4500 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 은 다양한 재료와 구조의 관찰 및 분석을위한 혁신적인 장치입니다. 이 SEM 은 혁신적인 설계 기능과 더불어 정확한 측정, 이미징, 분석 기능을 통해 광범위한 연구 작업에 이상적인 툴로 자리잡았습니다 (영문).