판매용 중고 HITACHI S-4500 #293821370

HITACHI S-4500은 생물학적, 화학 및 나노 스케일 샘플의 이미징 및 분석에 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 독보적인 광, 기계, 전자 부품이 특징이며, 사용자에게 탁월한 이미지 처리 기능과 해상도를 제공합니다. HITACHI S 4500은 장비 성능, 이미지 품질, 사용자 편의성, 신뢰성, TCO 등 최고의 SEM 솔루션으로 개발되었습니다. 이 장치에는 FEG (Cold Field Emission Gun) 소스와 자동 표본 교환 시스템이 장착되어 있습니다. FEG (Cold Field Emission Gun) 소스는 빔 일관성이 낮으며 샘플의 고해상도 사진을 제공합니다. 이 기능을 사용하면 매우 짧은 시간 내에 고해상도 이미지를 캡처할 수 있습니다. 자동화된 표본 교환 장치 (Automated Simplimen Exchange Unit) 는 빠른 자동 샘플 교환을 지원하므로, 사용자는 샘플을 교환할 필요가 없이 다양한 유형의 샘플 분석을 수행 할 수 있습니다. 또한 S-4500은 특정 파장의 빛과 X 선을 선택적으로 필터링할 수있는 압축 필터 (compressive filter) 를 제공하여 표면 결함을 감지하고 샘플 특성을 측정하는 데 정확하게 분석 할 수 있습니다. 또한 자동 정렬 기계 (automated alignment machine) 를 사용하여 진동 및 온도 변화와 같은 외부 기계적/전기적 섭동 (mechanical and electrical derturbation) 을 보상하므로 샘플이 항상 분석 할 수 있습니다. 사용자 편의성 측면에서 S 4500은 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 와 다양한 분석 소프트웨어 (analysis software) 를 제공하므로 데이터를 빠르고 쉽게 분석 할 수 있습니다. 이 장치에는 내장 진공 펌프 (vacuum pump) 및 표본 챔버의 다른 구성 요소가 포함되어 있으며이 도구는 초고 진공 스캔 전자 현미경에 이상적입니다. 다른 기능으로는 소음 감소 자산, 유연한 조명 제어 및 조정 가능한 전류 세대, 자동 스테이지 리셋 모델 (automated stage reset model) 이 있습니다. 안전성 측면에서 HITACHI S-4500은 아크 억제 장비 (Arc Suppression Equipment) 와 전기 충격으로부터 보호하기 위해 접지 된 샘플 홀더로 설계되었습니다. 또한, 비상 사태 의 경우, 효율적 인 "가스 '배기" 시스템' 은 진공실 밖 의 "가스 '를 소진 시키고 표본 의 오염 을 방지 한다. HITACHI S 4500은 강력하고 신뢰할 수 있는 스캐닝 전자 현미경으로, 탁월한 이미징 기능, 신뢰성, 소유 비용 등을 제공합니다. 이 장치는 고유한 기능을 통해 이미징, 데이터 분석, 나노기술 (nanotechnology), 기타 산업 분야의 전문가에게 적합합니다.