판매용 중고 HITACHI S-4500 #293799821

HITACHI S-4500은 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 으로, 광범위한 어플리케이션을 위한 다용도 및 비용 효율적인 이미징 기능을 제공합니다. HITACHI S 4500 SEM 에는 다양한 고급 기능 (예: 챔버 (chamber) 조건을 실시간으로 표시하는 고해상도 가변 압력 탐지기, 다양한 자동 작업 기능) 이 포함되어 있습니다. S-4500에는 TrueVIS 고급 필드 방출 건, 고해상도 Critical orifice Pressure Detector, 자기적으로 상승 된 기울기 단계, 자동 후광 대비 이미징 시스템 등 인상적인 기술이 있습니다. TrueVIS 건은 S 4500의 이미징 플랫폼의 중요한 부분으로, 뛰어난 총기 안정성을 제공하며 다양한 기능을 제공합니다. 0.1V ~ 10kV 가속 매개변수와 결합된 높고 낮은 확대/축소율과 정확한 스테이지 및 이미지 정렬을 위한 높은 정확도의 디플렉션 시스템 (deflection system) 간의 원활한 전환을 통해 성능을 극대화할 수 있습니다. 또한 TrueVIS 건 (gun) 과 고해상도 (detector) 를 사용하면 최대 이미지 해상도와 챔버 및 이미징 조건의 뛰어난 제어가 가능합니다. HITACHI S-4500은 또한 안정적이고 정확한 이미징 조건을 보장하도록 설계된 고품질의 고해상도 (High-Resolution) 열을 갖추고 있습니다. SEM은 자동화 된 4 + 1 축 로봇 식 작동 샘플 스테이지를 특징으로하며, 이를 통해 표본의 정렬과 무제한 기동을 가능하게합니다. 조이스틱 명령 (joystick command) 과 매우 높은 나노센터 (nanocenter) 를 사용한 고급 자동 샘플 탐색을 통해 다양한 표본 영역을 쉽게 스캔하고 쉽게 정렬할 수 있습니다. 또한 HITACHI S 4500 SEM의 FEG 배출 총에는 3 점 줄기 진공 드라이브 및 안정적이고 정확한 이미징을 지원하는 고정밀 디플렉션 렌즈가 장착되어 있습니다. S-4500 SEM은 샘플 준비를 위해 다양한 자동 및 수동 옵션도 제공합니다. 자동 두께 설정, 자동 가장자리 감지 (Automatic Edge Detection), 레이저 기반 초점 및 게인 조정 기능을 통해 생산성 및 사용 편의성이 향상됩니다. 자동 샘플 교환 (automated sample exchange) 기능은 빠른 표본 변경을 지원하는 반면, 기본 제공되는 자동 청소 기능은 최고 수준의 이미징 품질을 보장합니다. 또한 S 4500에는 자동화된 이미징 후 데이터 관리 및 분석 시스템 (Automated Automated Post-Imaging Data Management and Analysis System) 이 장착되어 있어 워크플로우를 간소화합니다. HITACHI S-4500은 뛰어난 화질과 뛰어난 유연성을 제공하는 첨단 스캐닝 전자 현미경입니다. 첨단 기술과 자동화된 운영 기능 (Automated Operation Features) 은 포괄적인 옵션을 제공하여 광범위한 애플리케이션을 위한 이상적인 선택입니다. 다양한 기능과 기능을 갖춘 HITACHI S 4500은 탁월한 성능, 안정성, 경제성을 제공합니다.