판매용 중고 HITACHI S-4500 #293614649

ID: 293614649
빈티지: 1994
Scanning Electron Microscope (SEM) Type II 1994 vintage.
HITACHI S-4500은 300kV 주사 전자 현미경 (SEM) 으로, 고해상도 광학 및 고급 이미징 기술을 사용하여 뛰어난 품질의 이미지를 얻을 수 있습니다. 이 제품은 사용자에게 다양한 리서치 및 산업 응용 프로그램 (Research and Industrial Application) 에 사용하도록 설계된 완전 디지털, 저진공 이미징 시스템을 제공합니다. HITACHI S 4500은 대규모의 고해상도 (high-resolution) 전자 탐지기, 통합 표본 단계 및 자동화 기능 및 제어 어레이를 갖추고 있습니다. S-4500은 고해상도 이중 원근 탐지기 (Dual Perspective Detector) 를 사용하여 생물학적인 표본부터 산업적인 표본까지 다양한 표본에서 뛰어난 이미징 결과를 얻을 수 있습니다. 현미경의 최대 배율은 600,000x, 해상도는 10kV 가속 전압에서 2.6 나노 미터까지 낮아집니다. 또한 S 4500에는 고속 반자동 빔 포커스 (semi-automatic beam focus) 및 드리프트 컨트롤 (drift control) 과 같은 고급 이미징 기술이 적용되어 선명하고 안정적인 이미지를 제공합니다. HITACHI S-4500은 또한 다양한 자동 기능을 제공하므로, 보다 간편하고 효율적으로 작동할 수 있습니다. 자동 빔 블랭커 (beam blanker) 기능을 통해 사용자가 작동 중에 빔 블랭커 (beam blanker) 와 검출기 (detector shutter) 를 수동으로 제어할 수 있으며, 이는 높은 배율로 이미징할 때 매우 유용합니다. HITACHI S 4500에는 자동 FIB/Secondary Electron Imaging 시스템과 샘플 분석 및 비교를 돕기 위해 이미지에서 텍스처 정보를 추출할 수있는 새로운 텍스처 분석 소프트웨어 패키지가 포함되어 있습니다. S-4500에는 최대 5cm 직경의 샘플을 쉽게 수용 할 수있는 큰 표본 스테이지가 있습니다. 표본 스테이지는 최대 600 'C의 가열이 가능하며, 빠르고 쉬운 로드 및 언로드를 위해 잠금 메커니즘이 있습니다. S 4500에는 다양한 액세서리 (accessory) 가 포함되어 있어 사용자가 자신의 설정을 최적화하고 이미지화할 수 있는 샘플 범위를 늘릴 수 있습니다. 전반적으로 HITACHI S-4500은 다양한 애플리케이션에 적합한 강력하면서도 컴팩트한 이미징 솔루션을 제공합니다 (영문). 고급 이미징 기술과 자동화된 제어 기능을 통해 고품질 이미지를 손쉽게 얻을 수 있으며, 대용량 표본 단계 (stage) 와 다양한 액세서리 (accessory) 를 통해 다양한 애플리케이션에 HITACHI S 4500을 사용할 수 있습니다.
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