판매용 중고 HITACHI S-4500 #293597923

HITACHI S-4500
ID: 293597923
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Magnification range: 50,00,000x CRT Monitor SE Detector: High and low No EDS No BSE Operating system: Windows XP.
HITACHI S-4500은 HITACHI High-Technologies에서 설계 및 제조 한 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 현미경은 고해상도 (High Resolution) 와 확대 (Magnification), 넓은 심도, 광범위한 환경 유연성 등 다양한 기능을 결합합니다. HITACHI S 4500의 필드는 매우 깊습니다. 이를 통해 다양한 샘플 환경에서 고대비 이미징을 수행할 수 있습니다. 또 다른 주사 전자 현미경 (scanning electron microscopes) 보다 더 큰 확대 수준에서 표면 구조를 관찰 할 수 있습니다. 또한, S-4500은 표면 반사율 수준이 낮아 이미징이 더 선명하고, 저조도 환경에서 더 상세합니다. SEM의 해상도는 현저하며 최대 배율은 400,000X입니다. 이 강력한 해상도는 나노 미터 수준에서 최대 10 나노 미터 크기의 세부 이미징을 허용합니다. 이 해상도는 또한 서브 미크론 (sub-micron) 기능의 고대비 이미징을 허용하여 S 4500은 다양한 재료를 이미징하는 데 이상적입니다. HITACHI S-4500은 다양한 환경 유연성을 제공합니다. 이를 통해 현미경은 저진공 (low-vacuum) 에서 고진공 (high-vacuum) 환경에 이르기까지 다양한 조건에서 사용될 수 있습니다. 고진공 (high-vacuum) 환경은 낮은 배경 이미징 및 표면 손상이 필요한 섬세한 재료에 대한 연구에 이상적입니다. HITACHI S 4500은 시스템 자동화 기능을 제공합니다. 즉, 단순화된 워크플로우와 직관적인 이미지 분석을 통해 사용자 환경을 향상시켜 줍니다. 이 자동화를 통해 최소한의 노력으로 데이터를 손쉽게 액세스, 분석, 처리할 수 있게 되었으며, 이를 통해 다양한 분야의 연구실과 연구를 위한 훌륭한 도구가 되었습니다 (영문). 전반적으로 S-4500 스캐닝 (scanning) 전자 현미경은 다양한 기능과 능력을 결합한 강력한 장치로, 다양한 이미징 및 연구 응용에 적합합니다. 매우 정확한 해상도, 폭넓은 현장, 환경 유연성, 자동화된 시스템 등으로 인해 S 4500은 모든 실험실에서 이상적인 선택이 됩니다.
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