판매용 중고 HITACHI S-4500 #293596952
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ID: 293596952
빈티지: 1994
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Magnification range: 50,00,000x
CRT Monitor
SE Detector: High and low
No EDS
No BSE
Operating system: Windows XP
1994 vintage.
HITACHI S-4500은 연구, 교육 및 산업 응용 분야에 널리 사용되는 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 다양한 강력한 기능을 통해 사용자가 쉽게 고품질의 결과를 얻을 수 있습니다. HITACHI S 4500은 더 높은 수준의 디테일을 가진 이미징 샘플에 대한 밝기가 높은 필드 방출 전자 소스 (field-emission electron source) 를 특징으로합니다. 노이즈 이미지 필터가 낮은 고급 검출기 시스템 (advanced detector system) 을 사용하면 샘플에서 미묘한 구조적 세부 사항도 구분할 수 있습니다. 또한 5 축 스테이지 모터라이제이션 시스템은 완전한 3 차원 제어로 샘플을 정확하게 배치하는 것이 특징입니다. 진공 척 (vacuum chuck), 기울기/회전 장치, 자동 스캔 컨트롤러 및 저해상도 이미징을위한 다양한 검출기와 같은 다양한 액세서리를 S-4500에서 사용할 수 있습니다. 이미징 기능 측면에서 S 4500은 2 차 전자 이미징 (SEI), 백스캐터링 전자 (BSE) 이미징, 고해상도 SEI, 저진공 이미징 및 렌즈 내 스캔 모드를 포함한 다양한 이미징 기술을 제공합니다. 다양한 스캐닝 기능을 통해 고해상도 도량형 (high-resolution metrology), 표면 분석 (surface analysis) 등 다양한 어플리케이션에 적합합니다. HITACHI S-4500은 또한 EDS (X-ray elemental analysis) 를 지원하므로 이미징 도구로서의 기능을 더욱 향상시킵니다. HITACHI S 4500의 긴 서비스 수명과 정확한 샘플 분석 (sample analysis) 기능이 주요 특징 중 하나입니다. 또한, 종합적인 On-Screen 도움말 시스템을 갖춘 사용자 친화적 인터페이스 (User-Friendly Interface) 를 통해 손쉽게 이해할 수 있습니다. 전반적으로 S-4500은 안정적이고 강력한 스캐닝 (scanning) 전자 현미경으로, 뛰어난 이미징 기능을 제공하며 다양한 어플리케이션에 적합합니다.
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