판매용 중고 HITACHI S-4500 #293594619

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ID: 293594619
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-4500은 고해상도 이미징을 위해 설계된 현장 방출 스캐닝 전자 현미경 (FE-SEM) 입니다. 차세대 고성능 FE-SEM (FE-SEM) 은 극성 필드 설계를 기반으로 하며, 새로운 고속 스캔 장비를 갖추고 있습니다. HITACHI S 4500은 매우 뛰어난 해상도, 이미지 안정성, 이미지 명암비를 제공하며, 다양한 샘플과 자료에서 정보를 캡처할 수 있습니다. S-4500은 큰 챔버, 높은 안정성 및 낮은 진동을 특징으로합니다. 챔버는 광범위한 이미징 기술 및 환경 조건을 허용합니다. 온보드 환경 제어 시스템 (ECS) 을 사용하면 온도, 가스, 압력에 대한 수동 또는 자동 제어를 통해 여러 실험을 쉽게 설정하고 제어할 수 있습니다. 내장 모터 제너레이터는 최대 160mm의 움직임을 제공하며, 샘플 스테이지는 저소음과 고정밀도입니다. S 4500은 고해상도 이미징, 샘플 포커스 최적화, 3D 샘플링, 관련 소프트웨어 패키지, 진화 통합 등 다양한 어플리케이션을 수용할 수 있도록 설계되었습니다. 내장형 HD 카메라 (대부분의 HITACHI S-4500 카메라와 호환) 와 HD 모니터와의 직접 연결을 통해 샘플을 스캔하는 동안 이미지를 전송할 수 있습니다. 카메라는 또한 광범위한 확대/축소율에서 더 큰 샘플을 분석할 수 있습니다. HITACHI S 4500의 성능과 관련하여, FEG (field-emission gun) 는 자체 리그에 있습니다. FEG 설계는 고해상도 이미지와 고해상도 이미지를 동시에 제작할 수 있는 탁월한 기능입니다 (영문). 최대 1 nm까지 인상적인 해상도를 생성하여 서브 미크론 이미징을 가능하게하며 최대 배율은 500,000x입니다. S-4500은 또한 에너지 분산 X- 선 검출기 (EDXD) 및 카토 돌 발광 장치 (CLS) 를 통해 분광 측정을 수행 할 수 있습니다. EDXD는 샘플의 원소 조성을 정확하게 분석하고, CLS는 발광 물질 연구에 이상적입니다. 안정적이고 정확한 계기 작동을 보장하기 위해 S 4500에는 초음파 청소기, 재생 가능한 샘플 클리닝, 진공 연동 기계, 자동 현미경 정렬 도구 등 다양한 소프트웨어 및 자동 기능이 있습니다. 이 자동 정렬 에셋 (automated alignment asset) 을 사용하면 정확한 배율 보정을 설정하고 유지할 수 있으며, 이를 통해 진정한 가로 이미지를 생성할 수 있습니다. 뛰어난 성능과 사용 편의성을 결합한 HITACHI S-4500 스캐닝 (scanning) 전자 현미경은 고해상도 이미징, 샘플 포커스 최적화, 진화 통합에 이상적인 선택입니다. HITACHI S 4500은 독보적인 FEG 설계, Spectroscopic 측정, 높은 확대 이미지 처리, 고급 소프트웨어, 자동 기능 등을 통해 다양한 샘플 애플리케이션에서 최적의 결과를 얻을 수 있습니다.
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