판매용 중고 HITACHI S-4500 Type II #9223115

HITACHI S-4500 Type II 스캐닝 전자 현미경은 나노 스케일 (nanoscale) 에서 재료의 영상 및 분석을 위해 설계된 고급 연구 도구입니다. 최대 50 만 × 의 배율 범위를 가진 SEM (High-Resolution Scanning Electron Microscope) 이미지를 생성 할 수 있습니다. 이 기기는 2 차 전자 검출기, 역 산란 전자 검출기, 광범위한 샘플 물질의 표면 및 근면 구조를 검출 및 분석하기위한 다양한 인-열 검출기 (in-column detector) 를 특징으로합니다. 또한 극저온 단계 (cryogenic stage) 가 장착되어 있어 샘플 표본을 액체 질소 온도로 냉각시켜 화질을 향상시킵니다. S-4500은 자동화된 측정 (automated measurement) 과 빠르고 고도로 훈련된 표면 특성화에 대한 패턴 인식 (pattern recognition) 을 포함한 다양한 고급 이미지 처리 기능을 자랑합니다. 그 가변 진공실은 다양한 수준의 압력으로 샘플을 측정 할 수 있으며, 샘플에 대한 광범위한 손상 없이 생물학적 조직, 퇴적 분자, 나노 미터 레벨 물체 (nanometer-level object) 와 같은 섬세한 생물학적 샘플을 이미징 및 분석 할 수 있습니다. S-4500은 HITACHI S 시리즈 라인업에서 가장 진보된 SEM입니다. 또한 이미지 자동 초점, 횡단면 측정, 밝기 제어, 자동 필터 등의 고급 이미지 처리 기능을 통해 사용자 인터페이스가 향상될 뿐만 아니라, 탁월한 분석, 이미지 선명도를 제공합니다. 빠른 이미지 획득률 (fast image acquisition rate) 과 연계된 S-4500은 일부 시간에 이미지를 분석하고 비교하기 위한 강력한 도구입니다. S-4500은 큰 샘플 스테이지 (sample stage) 와 다양한 크기와 모양으로 표본을 연구하기위한 광범위한 목표를 갖추고 있습니다. 샘플 스테이지는 가변 확대를위한 매우 정확한 X/Y/Z 모션 시스템과 연결되며, 이미지 크기 제어를 통해 최적의 이미징 성능을 제공합니다. S-4500은 또한 고급 광학을 갖춘 표면 제어 광학 시스템 (surface-controlled optical system) 과 정확한 위치 및 특성화를위한 샘플 재료 자동 정렬을위한 2 축 스테이지 모터 (two-axis stage motor) 를 갖추고 있습니다. 고수치 조리개 오브젝티브 렌즈 (aperture objective lens) 는 향상된 해상도와 향상된 심도 (depth of field) 를 제공하여 연구원들이 더 명확하고 정확하게 샘플 기능을 관찰하고 분석 할 수 있습니다. 전반적으로 HITACHI S-4500 TYPE-II는 반도체, 나노 기술 및 생물학과 같은 분야의 고급 연구 개발에 이상적입니다. 최고 수준의 이미지 정확도 (Image Accuracy) 및 신속한 이미징 기능을 제공하여 정교한 실험과 분석 (Analysis) 을 손쉽고 정확하게 수행할 수 있습니다.