판매용 중고 HITACHI S-4500 Type II #9111008

HITACHI S-4500 Type II는 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 으로, 표면의 확대 화상 및 광범위한 물체의 내부 구조를 가능하게합니다. 고해상도 (high resolution) 와 최대 1 백만 배의 확대로, SEM은 나노 스케일의 상세한 시각화를 위해 연구 및 업계에서 중요한 도구입니다. "셈 '(SEM) 은 전자 의 집중 광선 을 이용 하여 표본 을 주사 하여" 이미지' 를 생성 하는 전자 빔 현미경 이다. 이 이미지는 작동 모드에 따라 서피스 지형 (surface topography) 또는 샘플의 내부 구조 (internal structure) 의 근사치입니다. S-4500 (S-4500) 의 주요 특징은 샘플의 초점면을 가로질러 샘플을 이동하고 필요에 따라 배율을 변화시키는 능력입니다. 이것 은 전자 "빔 '의 가변 가속 전압 을 이용 함 으로써 달성 된다. 이를 통해 샘플의 시각화 (Visualization) 가 더욱 정확해지며 이미징의 세부 (Detail) 를 높일 수 있습니다. S-4500은 필요한 이미지의 종류에 따라 전송 (transmission) 및 역산란 (backscattering) 전자 모드에서 사용할 수 있습니다. 백스캐터링 (backscattering) 모드에서 전자는 샘플을 가로 질러 향하고 표면과 상호 작용하여 표면 지형 (surface topography) 의 이미지를 제공합니다. 대조적으로, 전송 모드는 전자를 사용하여 샘플의 얇은 층을 터널링하고, 내부 구조를 드러냅니다. S-4500은 SEM 이미징 (SEM) 의 잠재력을 극대화하는 다양한 기능과 기능을 제공합니다. 내장 디지털 카메라, 컴퓨터 제어 샘플 교환 시스템, 샘플 이동을위한 모터 스테이지, 정확한 이미징을 보장하는 스테이지 정렬 시스템 (stage alignment system) 이 있습니다. 또한, S-4500은 광범위한 가속 전압 (Accelerating Voltage) 및 해상도로 스캔할 수 있으며, 다양한 샘플에 대해 최적의 이미징을 제공합니다. HITACHI S-4500 TYPE-II는 나노 스케일 (nanoscale) 에서 오브젝트의 정확한 이미지를 캡처하기위한 연구원 및 엔지니어에게 귀중한 도구입니다. 확장 범위, 디지털 카메라, 동력 무대를 포함한 인상적인 기능의 조합으로 SEM 이미징 (SEM Imaging) 을 선택할 수 있습니다. 이 강력한 성능과 다양한 기능을 갖춘 S-4500은 어떠한 실험실에서도 이미지 처리 능력을 극대화할 수 있는 최상의 선택입니다 (영문).