판매용 중고 HITACHI S-4300 #9112452

HITACHI S-4300은 표면의 특성을 위해 설계된 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 그것은 FE-SEM (field emission scanning electron microscope) 이며, 고품질 전자 빔을 생성하기 위해 전계 방출 소스를 사용합니다. 광범위한 샘플에 대한 매우 상세한 이미징 및 분석 (analysis) 을 제공할 수 있는 사용이 간편한 시스템입니다. HITACHI S 4300 은 0.8nm (0.8nm) 이하의 매우 높은 해상도를 자랑하며, 매우 작은 기능을 관찰하고, 샘플의 구조를 놀라운 세부 사항으로 특징 지을 수 있습니다. 에너지 분산 X- 선 분광계 (EDS) 가 장착되어 있어, 정밀도가 높은 원소 특성을 수행하는 데 사용할 수 있습니다. 이러한 능력은 함께 생물학적 시스템의 전자 현미경, 나노 기술 재료, 실패 분석 및 교육 목적과 같은 응용 분야에 이상적입니다. S-4300은 큰 샘플을 처리 할 수 있으며, 접근성 (accessibility) 을 통해 최대 100,000배까지 다양한 확대율에 대한 관찰 및 분석이 가능합니다. 각도 조정이 0도에서 90도 사이인 광범위한 스테이지 틸트 (stage tilt) 기능이 있습니다. 이것은 원환형 연구를 수행하고 경사 표면을 보는 데 적합합니다. 또한 역산포 전자 영상 (backscattered electron imaging) 및 2 차 전자 영상 (secondary electron imaging) 과 같은 여러 가지 고급 영상 기술이 장착되어 있습니다. 뒤 흩어진 전자는 표면 특징을 드러내는 반면, 2 차 전자는 재료의 미세한 세부 사항을 보여줍니다. S 4300은 또한 "갤러리 이미징 (gallery imaging)" 이라는 자동 버전의 2 차 전자 이미징을 제공하며, 이는 샘플에서 검출기까지의 낮은 거리에서 샘플의 넓은 영역을 빠르게 스캔하는 데 도움이됩니다. 이러한 기능을 통해 HITACHI S-4300은 해상도가 10nm 미만인 데이터를 신속하게 수집할 수 있습니다. 또한 HITACHI S 4300에는 강력한 XYZ Piezo 모터가 장착되어 x, y 및 z축 평면에서 자동 이동이 가능합니다. 따라서 Raster Scanning 및 Line Scanning과 같은 스캔 패턴을 자동화할 수 있습니다. 이러한 자동화된 이동은 충전 인공물이 적은 더욱 빠르고 해상도가 높은 이미지를 제공합니다. 요약하자면, S-4300 은 다양한 샘플에 대한 고품질 이미징 및 분석 (analysis) 기능을 제공하는 고급 장치입니다. 고급 이미징 및 분석 기능, 초고해상도 (ultra-high resolution), 광범위한 스테이지 틸트 (stage tilt) 기능을 갖춘 이 스캐닝 전자 현미경은 다양한 어플리케이션에 귀중한 도구입니다.