판매용 중고 HITACHI S-4200 #9288014

HITACHI S-4200 (HITACHI S-4200) 은 다양한 재료, 특히 작은 구조와 밀도가 높은 기능을 분석하기 위해 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 SEM에는 고해상도, 확대 이미징 장비가 장착되어 있어 최대 400,000배, 이미징 해상도는 1.2 나노미터입니다. HITACHI S 4200은 강력한 전자 광학 및 감지 시스템과 다양한 호환 샘플 단계를 결합합니다. S-4200 에 사용 가능한 다양한 샘플 단계를 통해 반도체 샘플, 나노 스케일 오브젝트, 생물학적 셀, 재료 분수 등 다양한 샘플 유형을 분석 할 수 있습니다. 이미징 샘플의 경우, S 4200에는 2 차 전자 검출기, 역 산란 전자 검출기 및 선택적 x-ray 에너지 분산 검출기 장치가 있습니다. HITACHI S-4200의 2 차 전자 검출기는 최대 1.2 나노 미터의 해상도로 확대 된 2 차 전자 이미지를 동시에 획득 할 수 있습니다. 보조 전자 검출기를 사용하여 자동 초점 기능을 갖춘 자동 SEM 이미징을 수행 할 수도 있습니다. HITACHI S 4200의 역 산란 된 전자 검출기는 10 나노 미터 (nanometer) 의 저배율로 표면 조성 분석을 가능하게한다. S-4200은 다양한 샘플 홀더 (sample holder) 간에 샘플을 자동으로 이동시켜 편안함과 편리함을 극대화하는 독특한 자동 샘플링 (auto-sampling) 기능을 제공합니다. 자동 샘플링 (auto-sampling) 기능은 실험실 테스트의 효율성을 높이고 시간을 절약하고 인적 오류를 줄입니다. S 4200은 또한 선택적 나노-프로브 분광법 (nano-probe spectroscopy module) 을 제공하여 사용자가 높은 정밀도로 샘플의 전자 에너지 손실 분광법 (EELS) 을 매핑 할 수 있습니다. HITACHI S-4200은 또한 샘플에 대한 효율적이고 최소 침습적인 샘플을 수집하는 이상적인 기술 인 FIB (Focused Ion Beam) 밀링을 허용합니다. HITACHI S 4200에는 3DViewer, 3DReconstruction 및 Material Analysis Machine (MAS) 과 같은 HITACHI의 여러 소프트웨어 시스템도 장착되어 있습니다. 이러한 소프트웨어 패키지는 3D 이미징 기능, 명암비 향상, 자동 이미지 스티칭 (automated image stitching), 기타 여러 기능 등 다양한 샘플 분석을 위한 다양한 기능을 제공합니다. 전반적으로, S-4200은 매우 강력하고 다재다능한 SEM으로, 다양한 과학 연구 및 산업 응용 분야에 사용될 수 있습니다. 그 능력 은 현미경적 인 세상 에 대한 전례 없는 통찰력 을 제공 해 주며, 과학자 들 과 공학자 들 은 그 물질적 우주 를 전례 없는 세부점 으로 탐구 하고 이해 할 수 있게 해 준다. "깨어라!" (