판매용 중고 HITACHI S-4160 #9389833

HITACHI S-4160
ID: 9389833
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-4160은 재료 과학, 표면 분석 및 나노 스케일 이미징에 사용하도록 설계된 현대 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 반도체, 광학 통합, 생명 과학 및 나노 기술의 미세 구조 분석과 같은 응용 분야에 이상적입니다. HITACHI S 4160 (HITACHI S 4160) 은 전류 밀도가 높은 전자 빔을 생성하기 위해 고전하 입자 소스를 사용하는 새로운 전자 광학 시스템을 기반으로합니다. 그런 다음, 정전기 렌즈와 자기 렌즈를 사용하여 매우 작은 반점 크기로 초점을 맞춥니다. 그런 다음 이 빔을 표본에서 스캔하여 이미지를 만듭니다. S-4160 은 디지털 카메라와 이미지 재생 (image playback) 시스템뿐 아니라, 이미지 분석을 위한 정교한 소프트웨어 패키지를 갖추고 있습니다. 또한 자동 초점 (auto-focusing) 및 백스캐터 이미징 (backscatter imaging) 과 같은 다양한 자동 샘플 준비 기능이 있습니다. 또한, 내장 스테이지는 고정밀 자동 추적 시스템을 특징으로하며, 표본 정렬 및 이동이 간단하고 정확합니다. S 4160은 울트라 틴 나노 와이어 및 나노로드 이미징, 표면 이미징, 마이크로 채널 링, 미세 유체 이미징, 3D 이미징 및 입자 분석을 포함한 다양한 나노 스케일 이미징 기능을 제공합니다. 또한 최대 5.5nm의 고해상도와 5X-100KX의 확대 범위를 제공합니다. 다른 기능으로는 저진공 챔버 (low-vacuum chamber) 및 이중 에너지 검출기 (dual energy detector) 와 표본 영상을 최적화하는 텅스텐 필라멘트 소스 (tungsten filament source) 및 가변 총 전압 (variable gun voltage) 이 있습니다. 또한 이 SEM은 사용자 친화적인 디지털 터치스크린과 On-Axis View를 통해 사용자 경험을 향상시킬 수 있습니다. 결론적으로 HITACHI S-4160은 고성능 스캐닝 전자 현미경으로, 사용자에게 나노 스케일 이미징, 다양한 기능, 고해상도 결과를 제공할 수 있습니다. 반도체, 광학 미세 구조 분석, 표면 영상, 입자 분석 등 다양한 응용 분야에 적합합니다.
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