판매용 중고 HITACHI S-4160 #293609361

HITACHI S-4160 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 낮은 배율에서 높은 배율로 작동할 수있는 고품질 이미징 장비입니다. 최적의 이미징 조건을 위해 ALEC (Automatic Light Exposure Control) 시스템이 장착되어 있습니다. 이 장치는 전자 기둥, 케이싱, 표본 챔버, 스테이지 및 제어 기계로 구성됩니다. 전자 기둥에는 전자 소스, 렌즈 및 검출기가 포함되어 있습니다. "케이싱 '에는 자기장 을 만드는" 코일' 을 포함 한 약실 과 그 와 관련 된 성분 들 이 들어 있다. HITACHI S 4160의 표본 단계는 x-y-z 및\f41-4 단계를 선택하여 수동으로 작동하도록 설계되었습니다. 다양한 표본 크기 (최대 샘플 크기 70mm 포함) 를 처리 할 수 있으며 SEM 이미징을위한 다양한 샘플 홀더가 있습니다. x-y-z 스테이지는 최대 70mm 크기의 표본에 맞도록 수동으로 조정 할 수 있으며, 1/2 스테이지는 정확한 미세 이동을 제공하여 표본을 기울이고, 회전하고, 정밀하게 이동할 수 있습니다. SEM의 주요 기능은 이미지 해상도를 향상시키는 것입니다. 이를 달성하기 위해 현미경은 매우 높은 배율로 샘플의 표면 (surface) 과 내부 (inner) 구조를 감지 할 수있는 전자의 단단히 초점을 맞춘 빔을 만듭니다. S-4160에는 일반적으로 BTF (Bibliographic Thematic) 검출기라고도하는 EFD (Energy Filter Detector) 가 장착되어 있습니다. 이 기능은 최대 해상도와 최적의 이미지 선명도를 가능하게 합니다. 이 도구에는 여러 관측점에서 이상적인 이미지를 제공하는 MASE (multi-angle secondary electron imaging) 검출기가 있습니다. S 4160은 HiCalc Plus7 소프트웨어 (HiCalc Plus7 소프트웨어) 와 연동되어 현미경의 작동을 단순화하고 사용자에게 다양한 이미지 처리 기능을 제공합니다. 소프트웨어는 Image Analysis, Measurement 및 Operation의 세 가지 주요 섹션으로 구성됩니다. 이러한 각 섹션에는 고유한 명령 및 함수 세트가 있습니다. 이미지 분석 (Image Analysis) 섹션은 조건 분석, 히스토그램, 3D 렌더링 및 스캐닝과 같은 기능을 여러 측정 및 분석에 대해 여러 스케일로 제공합니다. 측정 (Measurement) 섹션은 세부 선 및 영역 외 데이터를 그리고 저장하는 데 도움이 되고 작업 (Operation) 섹션에서는 이미지 에셋을 보정하고 스테이지, 진공 및 전자 설정을 조정할 수 있습니다. 또한 photomontage 및 3D 단층 촬영과 같은 다른 기능도 엽니 다. HITACHI S-4160 은 뛰어난 해상도, 정확성, 반복성을 자랑하는 이미징 모델로, 높은 배율로 표본들을 보다 빠르고, 안정적이고, 경제적으로 검사할 수 있습니다. 재료 과학, 반도체 기술, 생물학적 연구 등 다양한 응용에서 귀중한 이미징 도구입니다.