판매용 중고 HITACHI S-4100 #293634973

HITACHI S-4100은 HITACHI High Technologies에서 물질의 미세 분석을위한 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 다양한 샘플을 분석하는 데 도움이 되는 다양한 기능과 샘플 (sample) 조작 기능이 있습니다. S-4100 (S-4100) 은 인상적인 심도와 초점 깊이를 자랑하며, 깊이가 확장된 낮은 배율로 샘플을 분석 할 수 있습니다. 또한 2 차 전자 (SE) 및 백스캐터 전자 (BSE) 이미징 기능을 통해 kV 조건과 kV 조건에서 샘플을 분석 할 수 있습니다. 현미경에는 자동 스티그메이션 (auto-stigmation) 이 제공되어 작고 기능이없는 샘플에도 빠른 빔 정렬 및 고해상도 SE 이미징이 가능합니다. 자동 스티그 기능은 또한 SE 이미지에서 더 큰 배율을 얻는 데 도움이됩니다. HITACHI S-4100 은 다양한 기능과 기능으로, 샘플을 더욱 쉽고 빠르게 분석할 수 있도록 설계되었습니다. 소프트웨어 시스템인 ScopeView (ScopeView) 는 비전도 및 전도성 샘플에 대한 효율적이고 정확한 실시간 시각적 검사를 제공합니다. 또한 S-4100에는 배율이 낮은 이미징을위한 완전하게 자동화된 틸터블 (tiltable) 표본 단계와 높은 배율로 이미징 용 샘플의 정렬 및 위치를 지정하기위한 독특한 X, Y, Z 코어 단계가 포함되어 있습니다. 이 핵심 단계는 EDS 매핑 및 EDX 요소 분석도 지원합니다. HITACHI 자기차폐 HV 챔버 (magnetically-shielded HV chamber) 는 현미경이 진동 및 마이크로포닉스에 노출되는 환경에서 설정하더라도 안정적인 작동을 보장합니다. 또한 기기의 고전압으로부터 샘플 보호를 제공합니다. HITACHI S-4100 은 또한 다양한 고급 소프트웨어 기능을 통해 데이터를 분석하고, 측정하는 동안 시간을 절약할 수 있습니다. 이러한 기능에는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하여 샘플 데이터를 정확하게 측정하는 디지털 스캐닝 (Digital Scanning) 이 포함됩니다. 또한 스캐닝 매개변수를 변경하여 샘플 서피스의 미묘한 변화를 감지할 수 있는 나선형 스캐닝 (Helical Scanning) 피쳐가 있습니다. 전반적으로 S-4100 은 뛰어난 스캐닝 (scanning) 전자 현미경으로, 다양한 기능, 기능, 소프트웨어 시스템을 제공하여 사용자가 신속하게 정확하게 마이크로 분석 작업을 수행할 수 있도록 도와줍니다. 자동 스티그 (auto-stig) 및 코어 스테이지 기능을 통해 사용자는 낮은 배율로 고해상도 이미지를 얻을 수 있으며 Digital Scanning 및 Helical Scanning 소프트웨어는 정확한 측정을 제공합니다. 자기 차폐 HV 챔버는 또한 높은 전압으로부터 안정적인 작동 및 샘플 보호를 보장합니다.