판매용 중고 HITACHI S-4100 #293632896

HITACHI S-4100 은 SEM (High Performance Scanning Electron Microscope) 으로, 사용자에게 업계 최고의 해상도, 명암비 및 표면 감도를 제공하도록 설계되었습니다. S-4100은 HITACHI 고유 전자 회로, 자동화 기술 및 공기 역학적 설계를 통합하여 낮은 진공 모드와 높은 진공 모드 모두에서 고속 스캐닝 및 이미징 기능을 제공합니다. HITACHI S-4100 은 또한 유연한 디지털 제어 (digital control) 및 데이터 수집 장비를 갖추고 있어 다양한 연구 애플리케이션에 이상적인 제품입니다. S-4100은 저가속 전압에서 뛰어난 해상도와 명암을 제공하는 독특한 2 차 전자 검출기를 특징으로합니다. 이로 인해 HITACHI S-4100은 섬세하고 연약한 샘플의 비파괴적 이미징에 적합합니다. 또한 S-4100에는 뛰어난 표면 감도와 연결된 초고해상도 이미징 기능을 제공하는 인렌즈 (in-lens) 탐지기 (옵션) 가 있습니다. 이를 통해 HITACHI S-4100은 표면 지형을 분석하고, 나노미터 규모 해상도로 미세 구조를 식별하고 특성화하기위한 이상적인 도구입니다. S-4100 의 기계적 설계를 통해 간편하고 안정적인 작업을 수행할 수 있습니다. HITACHI S-4100 (HITACHI S-4100) 의 저중력 설계 (Low Center of Gravity Design) 는 다양한 샘플 크기와 모양을 갖춘 넓은 단계의 이동 범위를 제공합니다. 정확하고 반복 가능한 이미징을 보장하기 위해 S-4100 은 자동 포커싱 시스템 (focusing system) 과 자동 이득 제어 기능을 갖추고 있습니다. 또한 HITACHI S-4100 은 고급 듀얼 빔 제어 장치 (Advanced Dual Beam Control Unit) 를 통합하여 다양한 애플리케이션의 낮은 진공 이미징 모드와 높은 진공 이미징 모드 사이를 쉽고 빠르게 전환할 수 있습니다. 사용이 간편하고 경제적인 기능을 제공하는 S-4100 은 뛰어난 해상도로 샘플의 디지털 이미지를 캡처할 수 있는 CCD (CCD) 카메라를 내장하고 있습니다 (영문). 이 시스템은 작동이 간편하고, 이미지 대비, 해상도, 밝기를 조정할 수 있는 직관적인 소프트웨어를 제공합니다. HITACHI S-4100 의 고성능 광 마이크로스코피 (Optical Microscopy) 툴은 기능 크기의 빠르고 정확한 크기와 추정에 이상적입니다. 요약하자면, S-4100 은 뛰어난 해상도와 명암비를 제공하는 고성능 SEM 과 초고해상도 이미징 기능을 제공합니다. 독보적인 2 차 전자 탐지기 및 자동 초점 자산 (automated focusing asset) 은 사용자가 신뢰할 수 있고 반복 가능한 이미징 결과를 제공합니다. 마지막으로, HITACHI S-4100 은 단순하고 직관적인 디지털 제어 및 데이터 수집 모델을 특징으로 하며, 이미지 처리 기능 향상을 위한 인렌즈 (in-lens) 검출기를 제공합니다.