판매용 중고 HITACHI S-4100 #293620142

이 품목은 이미 판매 된 것 같습니다. 아래 유사 제품을 확인하거나 연락해 주십시오. EMC 의 숙련된 팀이 이 제품을 찾을 수 있습니다.

ID: 293620142
빈티지: 1991
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) GATAN DigiScan Converter with Mac G4 Computer (2) Detectors: SE BSE EDX Detector Cryo transfer unit Instruction manuals Spare parts 1991 vintage.
HITACHI S-4100은 고해상도 스캔 및 이미지 분석에 사용되는 SEM (Scanning Electron Microscope) 모델입니다. 이 장치는 최대 10000배까지 높은 해상도와 배율을 제공합니다. 표준 SEM 보다 훨씬 높은 수준의 이미지 해상도와 명암비를 제공하는 고급 고가속 전압 (Advanced High Acceleration Voltage) 탐지기 (Detector) 가 있습니다. 이 장치에는 보다 정확한 이미징 및 분석을 위해 디지털 신호 프로세서 (digital signal processor) 가 장착되어 있습니다. S-4100 은 고급형 탐지기 (High-End Detector) 의 가용성 측면에서 더 큰 물체를 검사하고, 더 높은 사양을 가질 수 있도록 확대된 관측실을 보유하고 있습니다. 이 장치에는 2 차 전자, 백 흩어진 전자 및 X 선 이미지 증폭기 (X- 선 이미지 증폭기) 를 포함한 다양한 탐지기 (detector) 가 있습니다. 따라서 다양한 스캐닝 및 이미지 분석 (image analysis) 요구 사항을 충족할 수 있습니다. HITACHI S-4100은 또한 스플릿 사이드 틸트 범위 (split-side tilt range) 와 정확한 자동 포지셔닝 기능과 Z축 미리선택 기능을 갖춘 스테이지를 갖추고 있습니다. 통합 단계 (Integrated Stage) 를 사용하면 이미징 및 스캔 중에 자동 정렬이 가능하며 수동 작업을 최소화하고 샘플 준비에 소요되는 시간을 줄일 수 있습니다. 또한 마이크로 채널과 같은 나노 (nano) 구조의 자세한 관찰을위한 넓은 시야를 가지고 있습니다. 이 장치에는 자동 하드웨어 설정 시스템 (System of automatic hardware settings) 이 있어 분석에 가장 적합한 매개변수를 확보하고 SEM 이미징을 리콜할 수 있습니다. 사용자 친화적 컨트롤 패널은 빠른 설정과 편리한 분석 도구 시스템 (System of the efficient analysis tools) 을 통해 빠른 측정과 이미지 분석을 지원합니다. 또한 향후 참조를 위해 샘플 정보, 분석 매개변수, 이미지, 측정 데이터를 저장하는 영구 이미지 아카이빙 시스템 (persistent image archiving system) 이 있습니다. 이 장치에는 고해상도 SEM 이미징 및 분석을 위한 고급 이미징 소프트웨어가 장착되어 있으며, 2, 4, 9, 16 색 오사 색상 이미지를 생성할 수 있으며 3D 이미지를 생성하는 3D 매핑 도구가 장착되어 있습니다. 축 조작 기능을 사용하면 3D 이미지를 쉽게 조작, 확대/축소 및 회전할 수 있습니다. 마지막으로, 소프트 복사 컬러 인쇄는 1920 x 1280dpi 해상도에서 컬러 인쇄를 만들 수 있습니다. 결론적으로, S-4100 (S-4100) 은 이미지 분석을 용이하게하는 높은 해상도, 확대, 광범위한 검출기를 제공하는 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 그것의 확대 된 전망실, 자동 정렬 기능, 그리고 다양한 사용자 친화적 (user-friendly) 기능들은 사용 편이성을 제공하며 가능한 최단 시간 안에 샘플을 신속하게 분석합니다.
아직 리뷰가 없습니다