판매용 중고 HITACHI S-4000 #9361956

ID: 9361956
빈티지: 1990
Scanning Electron Microscope (SEM) 1990 vintage.
HITACHI S-4000은 고해상도, 고배율 이미지를 생성 할 수있는 현장 방출 스캐닝 전자 현미경 (FE-SEM) 입니다. HITACHI High-Tech Analytical Science Corporation이 개발 한 HITACHI S4000은 SEM, EDS (에너지 분산 X- 선 분광계) 및 마이크로 프로세싱을 포함한 광범위한 분석 모드를 지원합니다. S 4000은 이중 빔 장비로, 스캐닝 전자 건 (scanning electron gun) 과 집중식 이온 빔 건 (ion beam gun) 이 모두 장착되어 있습니다. 이를 통해 다양한 샘플 준비 및 이미징 기술이 가능합니다. FE-SEM은 텅스텐 필라멘트 (tungsten filament) 를 사용하여 전자 빔을 생성하여 최대 1 nm 해상도의 탁월한 투명도 이미지를 제공합니다. 집중 된 이온 빔 건 (ion beam gun) 은 샘플 준비 및 처리를 위해 매우 집중된 이온 빔을 방출합니다. 이 빔은 얇은 샘플, 횡단면 준비 및 기타 수정에 사용할 수 있습니다. S4000에는 고감도 EDS 시스템이 장착되어 있어 초고해상도로 샘플을 원소 분석할 수 있습니다. EDS 장치는 강력한 기술로 설계되어 소규모 샘플에 대한 빠른 속도와 높은 정확도를 분석할 수 있습니다. 다양한 샘플 보유자와 호환되는 HITACHI S 4000 은 크고 작은 샘플을 분석할 수 있습니다. 또한 S-4000 에는 완벽하게 자동화되고 직관적인 작업을 수행할 수 있는 최첨단 소프트웨어가 포함되어 있습니다. 이 소프트웨어는 확장 된 현장 이미징 심도, 향상된 신호 대 잡음 비율, 자동 디지털 Z 대비 이미징, 자동 스크래치 진단, 3D 마이크로 그래프 재구성 등의 강력한 기능을 제공합니다. 이 머신은 다양한 샘플 이미징 및 분석 애플리케이션을 위한 일체형 솔루션입니다. 광범위한 작동 모드와 고해상도 이미징 기능을 갖춘 HITACHI S-4000을 통해 연구원은 입체 및 3D 이미징, 나노 스케일 이미징 및 분석을 수행 할 수 있습니다. 이 주사 전자 현미경은 산업 및 재료 과학 (industrial and material science) 에서 생의학 연구 (biomedical research) 에 이르기까지 다양한 응용 분야를위한 강력한 플랫폼을 제공합니다.
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