판매용 중고 HITACHI S-4000 #293805135

ID: 293805135
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-4000은 매우 높은 해상도의 이미징 기능을 제공하도록 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 표면 품질이 우수하고 1 nm 이상 작은 샘플을 관찰하고 분석하는 데 적합합니다 (예: 1 nm 이상). 고전류 (High Current) 소스는 다양한 전압 확대 (Magnification) 에 대해 최소 기하학적 왜곡으로 고품질 이미지를 생성 할 수 있습니다. HITACHI S4000은 필드 배출 총과 Schottky 에미터의 두 가지 유형의 렌즈를 사용합니다. 이러한 렌즈의 조합으로 선명하고 고해상도 이미지를 만들 수 있습니다. 또한, S 4000은 샘플의 오염을 방지하고 반복 가능한 이미징 결과를 허용하는 낮은 진공 펌프를 가지고 있습니다. HITACHI S 4000에는 대규모 표면 및 3 차원 개체에 대한 고해상도 관찰이 가능한 고유한 60도 각도 모드 (60도 Angle Mode) 가 장착되어 있습니다. 이 기능은 전례없는 수준의 디테일과 정확성으로 3 차원 이미징을 가능하게합니다. S-4000은 고해상도 이미징, X 선 매핑, 원소 매핑, 원소 구성 분석 및 경량 요소 분석을 포함한 다양한 관찰 및 분석 기술을 제공합니다. 여러 샘플을 동시에 분석해야 하는 사용자에게 이 장비는 '다중 샘플 홀더 (multi-sample holder)' 옵션을 제공합니다. S4000의 저진공 시스템 (low-vacuum system) 은 신뢰성이 높아 자동화된 펌핑 주기로 인해 뛰어난 반복 가능한 이미징 결과를 생성합니다. 또한, 이 장치는 분석을 위해 샘플을 최대 350 ° C까지 가열하거나 재료에서 위상 전이를 검사하는 것과 같은 우수한 비 진공 기능을 가지고 있습니다. HITACHI S-4000은 매우 민감하고 다양한 시스템입니다. 첨단 확대 기능 및 화질 (Image Quality) 과 연계하여 모든 분석 실험실을 위한 강력한 SEM 입니다. HITACHI S4000 은 고해상도 이미징 기능과 뛰어난 샘플 보호 기능을 통해 다양한 과학 연구/산업 응용프로그램을 위한 이상적인 툴입니다 (영문).
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