판매용 중고 HITACHI S-3700N #9350985

HITACHI S-3700N은 0.5 나노미터의 해상도로 초미세 디테일의 시각적 이미지를 생성 할 수있는 고해상도 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이것은 강력한 전자총을 사용하여 표면을 스캔하는 전자의 집중된 광선을 방출하여 고해상도 전자광학 이미지 (electro-optical image) 를 만듭니다. HITACHI S 3700 N 은 멀티 콜렉터 컴퓨터 제어 장비와 다양한 소프트웨어 패키지와 함께 제공되어 정확하고 선명한 이미지를 제공합니다. 이 SEM은 가변 압력 샘플 조작을 위해 가변 압력 (VP) 단계와 결합 된 0.3mm 초점 조리개를 사용합니다. 가변 압력 단계 (variable pressure stage) 를 사용하면 다른 깊이와 세부 수준을 관찰하기 위해 샘플의 전자빔 (electron beam) 에 대한 노출을 조정할 수 있습니다. S-3700N은 또한 2 차 전자 영상 (SEI) 및 렌즈 내 검출 (ILD) 이 가능합니다. SEI 는 샘플 서피스의 피쳐에서 반사되는 전자를 감지하여 고해상도 표면 세부 이미지 (surface detail image) 를 생성합니다. ILD는 10nm 정도의 작은 표면 기능 이미지를 생성합니다. S 3700 N 에는 자동 스캔 제어 시스템이 장착되어 있어 사용자가 원하는 스캐닝 모드 (Scanning Mode), 확대 (Magnification) 및 노출 시간을 선택할 수 있습니다. 이 장치는 사용자의 요구에 따라 정적 (고정) 이미지 해상도 또는 동적 (조정 가능) 이미지 해상도를 생성할 수 있습니다. 또한 SEM에는 자동 포커싱 머신이 포함되어 있으며 최대 15 개의 확대 설정을 저장할 수 있습니다. HITACHI S-3700N은 이미지를 효과적으로 생성하기 위해 높은 진공 환경 및 온도 조절 환경이 필요합니다. 최대 가속 전압은 30kV이며, 1mm ~ 3mm 크기의 샘플 이미지를 생성 할 수 있습니다. 또한, 현미경은 금속, 합금 등 다양한 물질의 유기 및 무기 샘플을 모두 처리 할 수 있습니다. HITACHI S 3700 N 은 각도, 영역, 거리를 측정하는 데 사용할 수 있는 다양한 이미지 분석 소프트웨어 패키지를 옵션으로 제공합니다. 자동 카운팅, 자동 패턴 인식, 자동 3D 재구성과 같은 기능은 현미경의 세부 분석 가능성을 더욱 향상시킵니다. 이러한 기능은 표면 구성, 구조 및 전자 확산에 대한 정보를 제공 할 수 있습니다. 전반적으로 S-3700N은 강력한 전자 빔, 다색 컴퓨터 제어 도구, 다양한 이미지 분석 소프트웨어를 갖춘 뛰어난 기능을 갖춘 SEM입니다. 1mm ~ 3mm 크기의 샘플에 대한 고해상도 이미지를 만들 수 있으며, 각도, 영역, 거리, 자동 3D 재구성 (3D reconstruction) 을 분석할 수 있습니다. 이 SEM은 강력하고 신뢰할 수있는 스캐닝 전자 현미경을 찾는 연구원 및 전문가에게 이상적입니다.