판매용 중고 HITACHI S-3700N #293794261

HITACHI S-3700N은 뛰어난 성능, 높은 확대, 뛰어난 이미징 품질로 유명한 고급 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 기기는 까다로운 예제 (example) 환경에서도 최상의 세부 사항에 대한 뛰어난 이미지를 제공할 수 있습니다. HITACHI S 3700 N은 withelectron 빔 검출기, 전자 광 렌즈, 이미지 분석 컴퓨터 및 대형 고해상도 카메라를 장착하여 다양한 조건에서 샘플을 정확하게 분석 할 수 있습니다. S-3700N의 고전압 원에 의해 방출 된 고출력 전자 빔은 전자 디플렉터 시스템 (electron deflector system) 에 의해 변조된다. 이를 통해 전자 변조를 통해 미세 구조 이미지를 나노 미터 (nanometer) 수준으로 생성 할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 샘플 손상 (sample damage) 을 제한하고 이미지에서 더 큰 대비를 제공하는 에너지 필터 (energy filter) 로 설계되었습니다. S 3700 N의 전자-광학 렌즈 (electron-optical lenses) 는 빔을 샘플 표면에 집중시켜 매우 확대 된 이미지를 제공 할 수 있습니다. 이것은 인 렌즈 검출기 (in-lens detector) 를 사용하여 최대 50,000 배의 범위를 허용함으로써 더욱 향상됩니다. 또한, 렌즈 내 검출기는 몇 나노 미터까지 미세한 세부 사항을 감지 할 수 있습니다. HITACHI S-3700N에는 보조 전자 (슬리브) 검출기와 백스캐터 (바이브) 이미지 검출기가 장착되어 있습니다. 이러한 검출기는 미세 구조 변형, 곡물 경계, 균열 등 이미지 및 피쳐를 표시 할 수 있습니다. 또한, Bsive 검출기는 추가 렌즈 없이도 광범위한 배율을 허용합니다. 이미지 분석 컴퓨터가 HITACHI S 3700 N 에 연결되어 고해상도 이미지를 실시간으로 분석할 수 있습니다. 이것은 표면 영역, 부피, 다공성, 입자 수 등 다양한 특징을 측정하는 데 사용될 수 있습니다. 이미지 분석 컴퓨터 (image analysis computer) 는 자세한 그래픽 데이터와 추가 분석을 위해 정량 보고서를 작성할 수 있습니다. 마지막으로 S-3700N에는 대형 고해상도 카메라가 장착되어 있습니다. 이를 통해 사용자는 샘플의 자세한 사진과 비디오를 찍어 결과를 빠르고 정확하게 해석 할 수 있습니다 (영문). 결론적으로 S 3700 N 주사 전자 현미경은 강력한 장비로, 뛰어난 성능, 이미징 품질, 높은 배율을 제공합니다. HITACHI S-3700N은 다양한 검출기 (detector) 와 이미지 분석 컴퓨터 (image analysis computer) 를 사용하여 몇 나노미터 정도의 작은 샘플을 분석 할 수 있습니다. 이것은 다양한 연구 및 산업 응용을위한 이상적인 도구입니다.